Metodi e strumenti di misura per l'esecuzione di test non distruttivi ...

More documents

Recommendations

Info

Capitolo 3 Sviluppo ed ottimizzazione del sistema basato sulla Sonda Fluxset riferimento rispetto a cui verranno mostrati i risultati. Per fissati valori di altezza e profondità, è stata fatta variare la lunghezza della cricca da 2 a 20mm con passo 2mm. Nelle figg. 3.26 e 3.27 sono riportati i valori dei picchi del campo magnetico per i sensori posti sull’asse x e sull’asse y rispettivamente. Si può notare come vi sia una correlazione pressoché lineare tra l’ampiezza dei picchi del campo e la lunghezza della cricca. Una correlazione simile esiste tra la lunghezza della cricca e la distanza tra i picchi (come evidenziato nelle tabelle). Sono state anche analizzati gli andamenti degli altri picchi presenti (massimi locali) senza trovare correlazioni evidenti. L’attenzione si è successivamente spostata all’analisi delle mappe al variare sia dell’altezza che della profondità della cricca. Il primo grosso risultato è che la distanza tra i picchi non varia né al variare della profondità né dell’altezza, rimanendo quindi correlata alla sola lunghezza del difetto. Come ci si aspettava, sono state invece trovate correlazioni con l’ampiezza dei picchi (aumento dell’ampiezza all’aumentare dell’altezza o al diminuire della profondità). Queste correlazioni ad andamento inverso, perfettamente concordanti con la 1,40E-04 1,20E-04 1,00E-04 8,00E-05 6,00E-05 4,00E-05 2,00E-05 0,00E+00 B [T] 0 5 10 15 20 25 Lunghezza [mm] y sonda difetto x Materiale Fig. 3.25 La scansione imposta nella simulazione. lunghezza cricca [mm] ampiezza picchi primari [T] distanza picchi primari [mm] 2 2.270E-06 10 4 8.256E-06 12 6 1.805E-05 12 8 3.094E-05 12 10 4.646E-05 14 12 6.288E-05 16 14 7.885E-05 18 16 9.441E-05 20 18 1.107E-04 22 20 1.294E-04 24 Fig. 3.26 Ampiezza dei picchi del campo magnetico per il sensore posto sull’asse x. 141
Capitolo 3 Sviluppo ed ottimizzazione del sistema basato sulla Sonda Fluxset 1,20E-04 1,00E-04 8,00E-05 6,00E-05 4,00E-05 2,00E-05 0,00E+00 fisica del fenomeno, creano però un grado di libertà che rende non facile definire se la cricca è bassa ma poco profonda o è alta ma molto profonda. Per quanto riguarda le fasi del campo magnetico, per entrambe i sensori non sono state individuate correlazioni con le dimensioni dei difetti; le informazioni estrapolate dall’analisi delle fasi, sono però fondamentali nell’individuazione della posizione del difetto rispetto alla superficie di scansione. I netti cambiamenti di fase in corrispondenza dei difetti rendono l’individuazione della loro posizione un compito estremamente semplice. Per questa ragione, d’ora in avanti l’attenzione sarà posta esclusivamente all’individuazione delle dimensioni dei difetti. B [T] 0 5 10 15 20 25 Lunghezza [mm] Analisi simili a quelle mostrate per le cricche sottili sono state effettuate anche nel caso di difetti volumetrici mediante l’ausilio del software descritto nel §3.4.1.2. I risultati ottenuti sono praticamente equivalenti a quelli per cricche sottili, confermando la possibilità di generalizzazione dell’idea proposta. Questa breve analisi ha permesso di delineare un quadro generale del problema così da poter definire il mezzo più opportuno per lo sviluppo dell’algoritmo. 3.4.3 La ricostruzione dei difetti come problema di regressione L’idea seguita nello sviluppo del software di analisi delle mappe di campo è di utilizzare dispositivi artificiali di apprendimento in grado di estendere la conoscenza a dati nuovi, in base ad elementi appresi in una fase precedente. lunghezza cricca [mm] ampiezza picchi primari [T] distanza picchi primari [mm] 2 1.676E-06 6 4 5.907E-06 8 6 1.296E-05 8 8 2.219E-05 10 10 3.365E-05 10 12 4.669E-05 12 14 5.946E-05 14 16 7.193E-05 14 18 8.469E-05 16 20 9.655E-05 18 Fig. 3.27 Ampiezza dei picchi del campo magnetico per il sensore posto sull’asse y. 142
Page 1 and 2:
UNIVERSITÀ DEGLI STUDI DI CASSINO
Page 3 and 4:
Ringraziamenti Dovuti e sentiti rin
Page 5 and 6:
Capitolo 3 Sviluppo ed ottimizzazio
Page 7 and 8:
Introduzione ed Internazionale che
Page 9 and 10:
Introduzione sviluppando nuove tecn
Page 11 and 12:
Introduzione identificare oltre che
Page 13 and 14:
Capitolo 1 I controlli non distrutt
Page 15 and 16:
Page 17 and 18:
Page 19 and 20:
Page 21 and 22:
Page 23 and 24:
Page 25 and 26:
Page 27 and 28:
Page 29 and 30:
Page 31 and 32:
Page 33 and 34:
Page 35 and 36:
Page 37 and 38:
Page 39 and 40:
Page 41 and 42:
Page 43 and 44:
Page 45 and 46:
Page 47 and 48:
Page 49 and 50:
Page 51 and 52:
Page 53 and 54:
Capitolo 2 I metodi di indagine pro
Page 55 and 56:
Page 57 and 58:
Page 59 and 60:
Page 61 and 62:
Page 63 and 64:
Page 65 and 66:
Page 67 and 68:
Page 69 and 70:
Page 71 and 72:
Page 73 and 74:
Page 75 and 76:
Page 77 and 78:
Page 79 and 80:
Page 81 and 82:
Page 83 and 84:
Page 85 and 86:
Page 87 and 88:
Page 89 and 90:
Page 91 and 92:
Page 93 and 94:
Page 95 and 96: Capitolo 2 I metodi di indagine pro
Page 107 and 108: Capitolo 3 Sviluppo ed ottimizzazio
Page 145: Capitolo 3 Sviluppo ed ottimizzazio
Page 171 and 172: Conclusioni Nell’ambito dei Test
Page 173 and 174: Conclusioni la precisione nell’in
Page 175 and 176: Bibliografia [30] A. Bernieri, G. B
show all

Metodi e strumenti di misura per l'esecuzione di test non distruttivi ...

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

Delete template?

Save as template?