Entwicklung einer Nanotechnologie-Plattform für die ... - JuSER
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4 DIE HERSTELLUNGSTECHNOLOGIEN<br />
von bis zu ~ 20 nm bei <strong>einer</strong> Enddrehzahl von 3000 rpm und <strong>einer</strong> Beschleunigung von<br />
3000 rpm/s erzielt werden. Es sollte sich im weiteren Versuchsverlauf herausstellen,<br />
dass <strong>die</strong> Lackverdünnung, welche eine Reduzierung der Resildual-Layer-Dicken<br />
impliziert, ein notwendiges Werkzeug <strong>für</strong> <strong>die</strong> erfolgreiche Herstellung von<br />
Nanoelektroden darstellt (Kapitel 4.2.3).<br />
Abbildung 4.14: Aufschleuderkurve des NX-2010, Quelle: Nanonex.<br />
4.2.3 Residual-Layer und Fülleffekte<br />
Die Residual-Layer-Dicke ist ein bedeutender Parameter der Imprint-Technologie. Sie<br />
sollte möglichst gering gewählt werden, da <strong>die</strong> Güte des nachfolgenden Breakthrough-<br />
Etching (siehe Kapitel 2, Abbildung 2.1 e,l) maßgeblich von der Dicke des Residual-<br />
Layer abhängt. Dabei gilt: je dicker <strong>die</strong> Residual-Schicht, desto länger der Ätzprozess<br />
und desto größer sind <strong>die</strong> lateralen Strukturverluste durch chemische Ätzabtragungen an<br />
den Seiten der Lackstrukturen (siehe Kapitel 4.2.5). Da <strong>die</strong> Schichtdicke des Residual-<br />
Layer von der initial aufgebrachten Lackdicke abhängt, konnte <strong>die</strong>se durch <strong>die</strong><br />
Verdünnung der Lacklösung eingestellt werden. Abbildung 4.15 zeigt <strong>die</strong><br />
Abhängigkeiten von initialer Lack- und Residual-Layer-Dicke vom Feststoffgehalt des<br />
NX-2010. Die Werte wurden durch Ellipsometriemessungen und Messungen an<br />
Probenquerschnitten im Rasterelektronenmikroskop ermittelt. Die Messungen der<br />
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