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Entwicklung einer Nanotechnologie-Plattform für die ... - JuSER

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4 DIE HERSTELLUNGSTECHNOLOGIEN<br />

von bis zu ~ 20 nm bei <strong>einer</strong> Enddrehzahl von 3000 rpm und <strong>einer</strong> Beschleunigung von<br />

3000 rpm/s erzielt werden. Es sollte sich im weiteren Versuchsverlauf herausstellen,<br />

dass <strong>die</strong> Lackverdünnung, welche eine Reduzierung der Resildual-Layer-Dicken<br />

impliziert, ein notwendiges Werkzeug <strong>für</strong> <strong>die</strong> erfolgreiche Herstellung von<br />

Nanoelektroden darstellt (Kapitel 4.2.3).<br />

Abbildung 4.14: Aufschleuderkurve des NX-2010, Quelle: Nanonex.<br />

4.2.3 Residual-Layer und Fülleffekte<br />

Die Residual-Layer-Dicke ist ein bedeutender Parameter der Imprint-Technologie. Sie<br />

sollte möglichst gering gewählt werden, da <strong>die</strong> Güte des nachfolgenden Breakthrough-<br />

Etching (siehe Kapitel 2, Abbildung 2.1 e,l) maßgeblich von der Dicke des Residual-<br />

Layer abhängt. Dabei gilt: je dicker <strong>die</strong> Residual-Schicht, desto länger der Ätzprozess<br />

und desto größer sind <strong>die</strong> lateralen Strukturverluste durch chemische Ätzabtragungen an<br />

den Seiten der Lackstrukturen (siehe Kapitel 4.2.5). Da <strong>die</strong> Schichtdicke des Residual-<br />

Layer von der initial aufgebrachten Lackdicke abhängt, konnte <strong>die</strong>se durch <strong>die</strong><br />

Verdünnung der Lacklösung eingestellt werden. Abbildung 4.15 zeigt <strong>die</strong><br />

Abhängigkeiten von initialer Lack- und Residual-Layer-Dicke vom Feststoffgehalt des<br />

NX-2010. Die Werte wurden durch Ellipsometriemessungen und Messungen an<br />

Probenquerschnitten im Rasterelektronenmikroskop ermittelt. Die Messungen der<br />

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