Entwicklung einer Nanotechnologie-Plattform für die ... - JuSER
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5 HERSTELLUNG VON CROSSBAR-STRUKTUREN<br />
a)<br />
800 nm<br />
Abbildung 5.15: Crossbar-<br />
Arrays ohne Planarisierung<br />
mit Bottom-Elektroden von<br />
30 nm Höhe (a) und 15 nm<br />
Höhe (b).<br />
b)<br />
450 nm<br />
5.6 Das Crossbar-Array als Integrations-<strong>Plattform</strong><br />
Die Funktionalität von Crossbar-Strukturen mit planarisierten Bottom-Elektroden sollte<br />
anhand eines Experiments überprüft werden, in dem eine funktionale TiO 2 -Schicht in<br />
ein Array integriert wurde. TiO 2 ist als schaltbares Material bekannt und wird in<br />
Hinblick auf <strong>die</strong> Anwendung als zukünftiges Speichermaterial untersucht [52, 65, 109].<br />
Dementsprechend war es das Ziel durch <strong>die</strong> elektrische Charakterisierung der TiO 2 -<br />
Crossbars eine Aussage über den Erfolg der entwickelten Herstellungstechnologie (auf<br />
der Basis der Nanoimprint-Lithographie) treffen zu können.<br />
Die Herstellung der 30 nm hohen Pt-Bottom- und Pt-Top-Elektroden erfolgte dazu<br />
analog zur Beschreibung in Kapitel 5. Vor der Realisierung der Top-Elektroden wurde<br />
dabei allerdings eine 30 nm dicke TiO 2 -Schicht abgeschieden. In Abbildung 5.16 ist<br />
schematisch das hergestellte Pt/TiO 2 /Pt-Crossbar (a) und der Querschnitt <strong>einer</strong><br />
Pt/TiO 2 /Pt-Einzelzelle (b) dargestellt.<br />
Für <strong>die</strong> Charakterisierung der Arrays wurden elektrische Messungen mit einem Agilent<br />
B1500A Semiconductor Analyser durchgeführt. Dabei wurden Messnadeln auf <strong>die</strong><br />
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