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Entwicklung einer Nanotechnologie-Plattform für die ... - JuSER

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4 DIE HERSTELLUNGSTECHNOLOGIEN<br />

a)<br />

500 nm<br />

b)<br />

500 nm<br />

Abbildung 4.30: Pt-Strukturen nach dem Ar-Sputterätzen: a) Auswirkung des Fencing nach<br />

entfernen der Lackmaske, b) Reduzierung der Fencing-Strukturen durch 10°-Winkel-Ätzen.<br />

Metallreste von den Lackkanten zu entfernen, wurde <strong>die</strong> Probe unter sehr flachem<br />

Winkel geätzt. Hierin <strong>die</strong>nte eine 10° Verkippung der Probe zum Ionenstrahl der<br />

Realisierung flacher Ätzwinkel. Um eine Gleichmäßigkeit des Ätzabtrags zu<br />

gewährleisten, rotierte der Probenhalter mit 10 rpm. Nach dem Anti-Fencing-Prozess<br />

wurde der Lack von der Oberfläche der Metallstrukturen entfernt und es entstanden<br />

gleichmäßig strukturierte Leiterbahnen ohne Rabbit-Ears, wie sie in Abbildung 4.30 b)<br />

dargestellt sind.<br />

Substrat<br />

10 rpm<br />

Ar +<br />

10°<br />

Abbildung 4.31:<br />

Reduzierung der<br />

Fencing-<br />

Strukturen durch<br />

Ätzprozesse unter<br />

sehr flachen<br />

Winkeln.<br />

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