B k A +
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Expresión de la incertidumbre de medida: 2008 (Esp) Ejemplos<br />
l = (50,000 838 ± 0,000 093) mm, donde el número que sigue al símbolo ± es el valor numérico de una<br />
incertidumbre expandida U = k uc, con U determinada a partir de una incertidumbre típica combinada<br />
uc = 32 nm y un factor de cobertura k = 2,92 basado en una distribución t con 16 grados de libertad, la<br />
cual define un intervalo con un nivel de confianza del 99 %. La correspondiente incertidumbre<br />
expandida relativa es U / l = 1,9 × 10 -6 .<br />
H.1.7 Términos de segundo orden<br />
La nota de 5.1.2 precisa que la ecuación (10), utilizada en este ejemplo para obtener la incertidumbre típica<br />
combinada uc(l), debe completarse cuando la no linealidad de la función Y = f(X1, X2, ..., XN) es tan significativa<br />
que no pueden despreciarse los términos de mayor grado en el desarrollo en serie de Taylor. Esto es lo que<br />
sucede en este ejemplo, donde la evaluación de uc(l) mostrada hasta ahora no es completa. Aplicando la<br />
expresión dada en la nota de 5.1.2 a la ecuación (H.3), se obtienen dos términos de segundo orden distintos y<br />
no despreciables, que es necesario añadir a la ecuación (H.5). Estos términos, que provienen del término<br />
cuadrático en la expresión de la nota señalada, son<br />
2<br />
2 2<br />
2<br />
( δα ) u ( θ ) l u ( α ) u ( δθ )<br />
2 2<br />
l S u<br />
+ S S<br />
aunque solamente el primero de ellos contribuye significativamente a uc(l):<br />
-6 o −1<br />
o<br />
lS u(<br />
δα ) u(<br />
θ ) = ( 0,05 m)(0,58 × 10 C )( 0,<br />
41 C)<br />
= 11,7 nm<br />
-6 o −1<br />
o<br />
S u(<br />
α ) u(<br />
δθ ) = ( 0,05 m)(1,2 × 10 C )( 0,<br />
029 C)<br />
= 1,7 nm<br />
l S<br />
Los términos de segundo orden incrementan uc(l) desde 32 nm a 34 nm.<br />
H.2 Medición simultánea de una resistencia y una reactancia<br />
Este ejemplo muestra el tratamiento de múltiples mensurandos o magnitudes de salida, determinadas<br />
simultáneamente en la misma medición, así como la correlación entre sus estimaciones. Solamente se<br />
consideran las variaciones aleatorias de las observaciones; en la práctica real, las incertidumbres de las<br />
correcciones por efectos sistemáticos deberían contribuir también a la incertidumbre de los resultados de<br />
medida. Los datos son analizados de dos formas distintas, conduciendo esencialmente a los mismos valores<br />
numéricos.<br />
H.2.1 Definición del problema de medición<br />
La resistencia R y la reactancia X de un elemento de un circuito se determinan midiendo la amplitud V de la<br />
diferencia de potencial alterna sinusoidal entre sus bornes, la amplitud de la intensidad de corriente alterna I<br />
que lo atraviesa, y el desfase φ entre la diferencia de potencial y la corriente alterna. Así, resulta que las tres<br />
magnitudes de entrada son V, I y φ, mientras que las magnitudes de salida, los mensurandos, son las tres<br />
componentes de la impedancia R, X y Z. Como Z 2 = R 2 + X 2 , solo hay dos magnitudes de salida independientes.<br />
H.2.2 Modelo matemático y datos<br />
Los mensurandos están ligados a las magnitudes de entrada por la ley de Ohm<br />
V<br />
V<br />
R = cos φ ; X = sen<br />
φ ;<br />
I<br />
I<br />
V<br />
Z = (H.7)<br />
I<br />
Se considera que se han obtenido cinco conjuntos independientes de observaciones simultáneas de las tres<br />
magnitudes de entrada V, I y φ, en condiciones análogas (véase B.2.15), de donde resultan los datos que se<br />
presentan en la tabla H.2. La tabla también muestra las medias aritméticas de las observaciones, y las<br />
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