25.08.2013 Views

Wersja pełna [8,55 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

Wersja pełna [8,55 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

Wersja pełna [8,55 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

17.<br />

niepewność standardowa i rozszerzona.<br />

Oscyloskop analogowy: architektura, zasada pracy X 1<br />

18. Generator podstawy czasu, metody wyzwalania X 0,67<br />

19. Oscyloskopowe metody pomiarowe: fazy, parametry impulsów,<br />

charakterystyk X/Y elementów i układów<br />

X 1<br />

20. Cyfrowe metody pomiaru przedziałów czasów, błąd dyskretyzacji X 1<br />

21. Cyfrowe metody pomiaru częstotliwości niskich i wysokich X 1<br />

22. Cyfrowe pomiary fazy X 0,33<br />

23. Charakterystyka metod cyfrowego pomiaru napięcia X 0,33<br />

24. Integracyjne przetworniki A/C z podwójnym całkowaniem X 1<br />

25. Integracyjny przetwornik A/C z przetwarzaniem<br />

napięcie/częstotliwość<br />

X 0,67<br />

26. Przetworniki cyfrowo-analogowe z siecią rezystorów o wagach<br />

binarnych oraz siecią R-2R<br />

X 1<br />

27. Kompensacyjne przetworniki A/C z sukcesywną aproksymacją X 0,67<br />

28. Przetworniki A/C bezpośredniego porównania równoległego X 0,33<br />

29. Pomiary napięć zmiennych: parametry mierzone, przetworniki<br />

AC/DC wartości skutecznej (True RMS)<br />

X 0,67<br />

30. Multimetry cyfrowe: przetworniki rezystancja/napięcie X 0,67<br />

31. Oscyloskop cyfrowy: architektura, techniki próbkowania, tryby<br />

pracy, zastosowania<br />

X 1<br />

32. Cyfrowe metody pomiarowe parametrów impedancyjnych R, L, C,<br />

|Z|<br />

X 1<br />

33. Klasyfikacja i charakterystyka systemów pomiarowych X 0,33<br />

34. Magistralowe systemy pomiarowe z interfejsem w standardzie<br />

GPIB: struktura, linie sygnałowe, zasada transmisji z obustronnym<br />

potwierdzeniem (handshake 3-przewodowy)<br />

X 1<br />

35. Przyrządy wirtualne i narzędzia ich projektowania X 0,33<br />

Razem 30<br />

Karta zajęć – laboratorium<br />

Lp. Zagadnienie poziom<br />

1. Wzmacniacz operacyjny: pomiar wzmocnienia różnicowego i<br />

sumacyjnego, pasma przenoszenia oraz rezystancji wyjściowej<br />

wzmacniacza.<br />

2. Ujemne sprzężenie zwrotne: badanie wzmacniacza dwustopniowego<br />

na tranzystorach bipolarnych pracującego w układazh z otwartą i<br />

zamkniętą pętlą sprzężenia zwrotnego oraz jego charakterystyki<br />

częstotliwościowej.<br />

3. Wzmacniacz rezonansowy: pomiar charakterystyk<br />

częstotliwościowych wzmacniacza z pojedynczym, podwójnym i<br />

potrójnym obwodem rezonansowym.<br />

4. Podstawowe układy pracy tranzystora bipolarnego: badanie<br />

tranzystora pracującego w konfiguracji wspólnego emitera,<br />

wspólnej bazy i wspólnego kolektora, w tym pomiar wzmocnienia<br />

oraz częstotliwości granicznych.<br />

5. Wzmacniacz akustyczny: pomiar mocy wyjściowej, sprawności<br />

energetycznej, charakterystyki częstotliwościowej i zniekształceń<br />

nieliniowych przy różnych rezystancjach obciążenia i różnych<br />

poziomach sygnału wejściowego.<br />

6. Wprowadzenie: program, tryb wykonywania ćwiczeń i sprawozdań.<br />

Zagadnienia planowania eksperymentu, obróbka i wizualizacja<br />

danych pomiarowych. Zapoznanie z podstawową aparaturą.<br />

7. Badanie i wzorcowanie podstawowych mierników elektrycznych<br />

analogowych i cyfrowych (typu Metex) współpracujących z<br />

wiedzy umiej.<br />

A B C D E<br />

liczba<br />

godzin<br />

X 3<br />

X 3<br />

X 3<br />

X 3<br />

X 3<br />

X X 3<br />

X X 3<br />

229

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!