Schlussbericht - Dechema Forschungsinstitut
Schlussbericht - Dechema Forschungsinstitut
Schlussbericht - Dechema Forschungsinstitut
Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.
YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.
Wärmebehandlungen, die in einem feinlamellaren Gefüge ohne α-Phase auf den<br />
Korngrenzen resultierten:<br />
- 940°C / 1h / Luftabkühlung<br />
- 760°C / 5h / Luftabkühlung<br />
Diese Wärmebehandlungen wurden vorgenommen, bevor die Proben zu Zugproben<br />
weiterverarbeitet wurden.<br />
3.5. Gefügeanalyse<br />
3.5.1. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie<br />
Lichtmikroskopische Aufnahmen wurden in der Anfangsphase des Projektes mit dem<br />
Mikroskop Olympus PMG3 vorgenommen. Im späteren Verlauf wurde ein neues Gerät<br />
angeschafft, ein Zeiss Axio Imager.M2m, wodurch qualitative Bildunterschiede in diesem<br />
Bericht begründet sind.<br />
Die Rasterelektronenemikroskope Zeiss Leo 1550 sowie Philipps XL 40 wurden zur<br />
Untersuchung von Bruchflächen sowie der Mikrostruktur verwendet. Mit dem am Leo 1550<br />
befindlichen EDX-Detektor wurden insbesondere die Partikel im Gefüge auf ihre Bestandteile<br />
hin untersucht.<br />
3.6. Phasenanalyse mittels Synchrotronstrahlung<br />
An der HASYLAB Beamline BW5 des Deutschen Elektronensynchrotrons (DESY) in<br />
Hamburg wurde mit hochenergetischer Röntgenstrahlung eine Phasenanalyse an<br />
verschiedenen Proben durchgeführt. In einem mit Bleiplatten abgeschirmten Sperrbereich<br />
trifft monochromatische Röntgenstrahlung rechtwinklig auf eine Probe (Auftreffbereich ca.<br />
0,5 mm x 0,5 mm). Der Vorteil im Vergleich zum XRD-Verfahren liegt in der hohen<br />
Strahlenergie von ca. 100keV. Es können mehrere Millimeter dicke Proben (hier: 5 bis 7 mm)<br />
durchstrahlt werden, was zu einer Reduktion des Oberflächeneinflusses (z.B. Oxidbildung an<br />
der Probenoberfläche) führt. Außerdem können Phasen mit Anteilen unter 1% detektiert<br />
werden.<br />
Der Röntgenstrahl wird an den verschiedenen Phasen des Probenmaterials gebeugt und<br />
trifft je nach Orientierung der Phase und Gitterebene, an der die Beugung stattfand, auf<br />
einen Detektor hinter der Probe. Für jede Ebenenfamilie des Gitters einer Phase stellt sich<br />
ein fester Beugungswinkel ein. Da die Phasen im Material unterschiedlich orientiert sind,<br />
bildet sich zu jeder Ebenenfamilie ein Kreisring auf dem Detektor (Debye-Scherrer-Ringe).<br />
Die Ringgrafiken werden durch Integration über den Kreis in ein 2-dimensionales<br />
Beugungsbild überführt, auf dem die gemessene Strahlintensität über den Beugungswinkel<br />
2θ dargestellt ist. Aus den Intensitätspeaks des Beugungsbildes lassen sich mit Hilfe der<br />
Braggschen Gleichung (Gl. 1) [39] den Beugungswinkeln einzelne Gitterebenenabständen<br />
zuordnen.<br />
22