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Schlussbericht - Dechema Forschungsinstitut

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Wärmebehandlungen, die in einem feinlamellaren Gefüge ohne α-Phase auf den<br />

Korngrenzen resultierten:<br />

- 940°C / 1h / Luftabkühlung<br />

- 760°C / 5h / Luftabkühlung<br />

Diese Wärmebehandlungen wurden vorgenommen, bevor die Proben zu Zugproben<br />

weiterverarbeitet wurden.<br />

3.5. Gefügeanalyse<br />

3.5.1. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie<br />

Lichtmikroskopische Aufnahmen wurden in der Anfangsphase des Projektes mit dem<br />

Mikroskop Olympus PMG3 vorgenommen. Im späteren Verlauf wurde ein neues Gerät<br />

angeschafft, ein Zeiss Axio Imager.M2m, wodurch qualitative Bildunterschiede in diesem<br />

Bericht begründet sind.<br />

Die Rasterelektronenemikroskope Zeiss Leo 1550 sowie Philipps XL 40 wurden zur<br />

Untersuchung von Bruchflächen sowie der Mikrostruktur verwendet. Mit dem am Leo 1550<br />

befindlichen EDX-Detektor wurden insbesondere die Partikel im Gefüge auf ihre Bestandteile<br />

hin untersucht.<br />

3.6. Phasenanalyse mittels Synchrotronstrahlung<br />

An der HASYLAB Beamline BW5 des Deutschen Elektronensynchrotrons (DESY) in<br />

Hamburg wurde mit hochenergetischer Röntgenstrahlung eine Phasenanalyse an<br />

verschiedenen Proben durchgeführt. In einem mit Bleiplatten abgeschirmten Sperrbereich<br />

trifft monochromatische Röntgenstrahlung rechtwinklig auf eine Probe (Auftreffbereich ca.<br />

0,5 mm x 0,5 mm). Der Vorteil im Vergleich zum XRD-Verfahren liegt in der hohen<br />

Strahlenergie von ca. 100keV. Es können mehrere Millimeter dicke Proben (hier: 5 bis 7 mm)<br />

durchstrahlt werden, was zu einer Reduktion des Oberflächeneinflusses (z.B. Oxidbildung an<br />

der Probenoberfläche) führt. Außerdem können Phasen mit Anteilen unter 1% detektiert<br />

werden.<br />

Der Röntgenstrahl wird an den verschiedenen Phasen des Probenmaterials gebeugt und<br />

trifft je nach Orientierung der Phase und Gitterebene, an der die Beugung stattfand, auf<br />

einen Detektor hinter der Probe. Für jede Ebenenfamilie des Gitters einer Phase stellt sich<br />

ein fester Beugungswinkel ein. Da die Phasen im Material unterschiedlich orientiert sind,<br />

bildet sich zu jeder Ebenenfamilie ein Kreisring auf dem Detektor (Debye-Scherrer-Ringe).<br />

Die Ringgrafiken werden durch Integration über den Kreis in ein 2-dimensionales<br />

Beugungsbild überführt, auf dem die gemessene Strahlintensität über den Beugungswinkel<br />

2θ dargestellt ist. Aus den Intensitätspeaks des Beugungsbildes lassen sich mit Hilfe der<br />

Braggschen Gleichung (Gl. 1) [39] den Beugungswinkeln einzelne Gitterebenenabständen<br />

zuordnen.<br />

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