Schlussbericht - Dechema Forschungsinstitut

Abbildung 81: Ti-FMS, WB 1100 °C vor (links) und nach (rechts) SE-Modus. 14 Stunden Exposition in
5 gew% H2SO4. Flächige Korrosion und Aufreißen von Lunkern.
4.6.1.3. Rasterkraftmikroskopische Untersuchungen
Mittels Rasterkraftmikroskopie wurden Untersuchungen der Voltapotentialunterschiede
mittels Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (SKPFM) sowie die
Topographieveränderung in Flüssigkeit in einer elektrochemischen Minizelle (EC-AFM)
untersucht.
Abbildung 82 zeigt die Topographie eines Partikels auf Ti-FMS, SV 850 °C. Es ist
deutlich zu sehen, dass der Partikel aus der Oberfläche heraussteht. Die gleichzeitige
Aufnahme des Voltapotentialunterschiedes (Abbildung 83) zeigt, dass der Partikel selbst aus
Bereichen unterschiedlicher Potentiale besteht. In zwei Bereichen zeigt sich ein zur Matrix
und zum Rest des Partikels wesentlich höheres Potential. Es ist ebenso deutlich erkennbar,
dass die β-Phase einen höheren Voltapotentialunterschied zur Spitze aufweist, als die α-
Phase. Im Allgemeinen weisen die Partikel auf SKPFM Aufnahmen ein niedrigeres Potential
auf, als die sie umgebende Matrix.
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