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Texte intégral en version PDF - Epublications - Université de Limoges

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apport au volume <strong>de</strong> matière déposée r<strong>en</strong>d<strong>en</strong>t s<strong>en</strong>sibles la perte <strong>de</strong> la stœchiométrie<br />

dans les films minces comportant <strong>de</strong>s élém<strong>en</strong>ts volatiles comme le plomb et le bismuth<br />

[170].<br />

Un tel écart à la stœchiométrie idéale peut induire la cristallisation <strong>de</strong> phases<br />

secondaires. Nous avons observé la prés<strong>en</strong>ce d’un mélange <strong>de</strong> phase dans le cas d’un<br />

traitem<strong>en</strong>t TC et la prés<strong>en</strong>ce exclusive d’une phase <strong>de</strong> structure pyrochlore dans le cas<br />

d’un traitem<strong>en</strong>t RTA.<br />

3.3 Modèle <strong>de</strong> cristallisation (sol stœchiométrique <strong>en</strong> bismuth)<br />

Phases cristallines Bi2Ti4O11 Bi1,74Ti2O6,624 Bi2Ti2O7 SrBi4Ti4O15<br />

Ratio r = [Bi]/[Ti] 0,5 0,87 1 1<br />

De nombreux auteurs ont mis <strong>en</strong> évid<strong>en</strong>ce <strong>de</strong>s interactions ou liaisons<br />

chimiques fortes obt<strong>en</strong>ues au cours d’un traitem<strong>en</strong>t thermique <strong>en</strong>tre un métal noble<br />

(Au, Pt,…) et les cations qui compos<strong>en</strong>t un film oxy<strong>de</strong> (Ti 4+ , Pb 2+ , Bi 3+ ,…). Jia et al.<br />

<strong>en</strong>tre autres ont observé la formation d’un composé intermétallique à l’interface<br />

interne d’un film mince déposé sur une électro<strong>de</strong> <strong>de</strong> platine [146]. Cet alliage<br />

métastable est le résultat <strong>de</strong> l’interdiffusion <strong>de</strong>s élém<strong>en</strong>ts qui compos<strong>en</strong>t l’électro<strong>de</strong><br />

et le film ferroélectrique. Outre l’évaporation <strong>de</strong>s composés à base <strong>de</strong> bismuth à<br />

l’interface externe du film mince, il est important <strong>de</strong> gar<strong>de</strong>r à l’esprit que la diffusion<br />

du bismuth dans l’hétérostructure platinée peut ainsi être une source secondaire <strong>de</strong><br />

déficit <strong>en</strong> bismuth à proximité <strong>de</strong>s interfaces. Des expéri<strong>en</strong>ces « SIMS » d’étu<strong>de</strong> <strong>de</strong><br />

la t<strong>en</strong>eur <strong>en</strong> divers élém<strong>en</strong>ts chimiques <strong>en</strong> fonction <strong>de</strong> la profon<strong>de</strong>ur <strong>de</strong> pénétration<br />

dans le film selon la normal au substrat (non prés<strong>en</strong>té ici) ont mis <strong>en</strong> évid<strong>en</strong>ce la<br />

migration du bismuth dans le platine avec une interdiffusion platinebismuth non<br />

négligeable dans le cas <strong>de</strong> traitem<strong>en</strong>t thermiques relativem<strong>en</strong>t long.<br />

Dans le cas d’un sol stœchiométrique et d’un traitem<strong>en</strong>t conv<strong>en</strong>tionnel à<br />

800°C avec une rampe <strong>de</strong> 10°C.min -1 nous proposons le modèle suivant (Figure 37) :<br />

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