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Texte intégral en version PDF - Epublications - Université de Limoges

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préalable cristallisée par traitem<strong>en</strong>t rapi<strong>de</strong> RTA recouvert <strong>de</strong> 4 autres couches, noté<br />

RTA* (Figure 44).<br />

Les films BBT15 (1//4,6//4) possèd<strong>en</strong>t trois types <strong>de</strong> microstructures<br />

drastiquem<strong>en</strong>t différ<strong>en</strong>tes <strong>en</strong> fonction <strong>de</strong> la procédure <strong>de</strong> cristallisation :<br />

- Le film cristallisé par traitem<strong>en</strong>t conv<strong>en</strong>tionnel TC (Figure 41) se<br />

caractérise par <strong>de</strong>s grains <strong>de</strong> forme sphérique <strong>de</strong> diamètre 100-200<br />

nm et le diagramme <strong>de</strong> diffraction ne semble possé<strong>de</strong>r que les<br />

réflexions (hkℓ) pour <strong>de</strong>s couples (h,k) ≠ (0,0). Il possè<strong>de</strong> une certaine<br />

porosité que l’on peut apprécier sur la micrographie ci-<strong>de</strong>ssous<br />

réalisée <strong>en</strong> champ clair. Les anneaux du cliché <strong>de</strong> diffraction<br />

électronique <strong>en</strong> sélection d’aire (SAED) sont in<strong>de</strong>xés dans le groupe<br />

d’espace I4/mmm <strong>de</strong> BaBi4Ti4O15.<br />

Figure 41 : Etu<strong>de</strong> <strong>en</strong> microscopie électronique (MET) <strong>de</strong> la vue plane d’un film <strong>de</strong> BBT15 traité 30<br />

minutes à 800°C (10°C.min -1 ).<br />

- Le film cristallisé par traitem<strong>en</strong>t rapi<strong>de</strong> RTA (Figure 42) est composé <strong>de</strong><br />

grains <strong>de</strong> forme allongée et <strong>de</strong> plaquettes parallèles au plan du<br />

substrat comme on peut le constater sur la figure suivante ou dans le<br />

paragraphe précéd<strong>en</strong>t sur le traitem<strong>en</strong>t rapi<strong>de</strong> et la solution <strong>de</strong><br />

BBT15 cont<strong>en</strong>ant 15% d’excès <strong>de</strong> bismuth. Le diagramme <strong>de</strong><br />

diffraction associé à cette microstructure correspond à celui obt<strong>en</strong>u<br />

dans le cas d’un film traité conv<strong>en</strong>tionnellem<strong>en</strong>t sur lequel la<br />

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