Texte intégral en version PDF - Epublications - Université de Limoges

3.1.2 Diagrammes de référence
La figure suivante (Figure 28) présente les diagrammes de diffraction des
rayons X réalisés dans le cas d’un simple substrat d'alumine puis d’un substrat
revêtu d’un film mince composé de 10 couches de SBT15 et traité 3 heures à 800°C
sous air avec une rampe de chauffage de 10°C.min -1 .
La comparaison des réflexions expérimentales avec les données du fichier
JCPDS 43-0973 de SBT15 permet de constater que les diagrammes ne comportent
que les raies de diffraction appartenant au substrat et à SBT15. De plus, le caractère
polycristallin du substrat d'alumine est confirmé par la présence de toutes les
réflexions autorisées par le groupe d'espace R-3c fourni par le fichier de référence
JCPDS 46-1212 (type corindon).
On observe les pics de diffraction caractéristiques des familles de plan (0010),
(111), (117), (119) pic le plus intense à 30,2°, (020), (1113), (0210), (220) et (131) de
la phase SrBi4Ti4O15. La diversité des plans diffractants, en accord avec la fiche
JCPDS de SBT15, atteste aussi de la polycristallinité du dépôt composé de grains
aléatoirement répartis.
Figure 28 : Diagrammes de diffractions de rayons X de référence d’un substrat d’alumine et d’un film
mince de SBT15 composé de 10 couches et traité 3h à 800°C.
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