Texte intégral en version PDF - Epublications - Université de Limoges

Figure 111 : Micrographies MEB du film présenté (Figure 109) et recuit 30 minutes à 750°C avec une rampe de
chauffe TC. .................................................................................................................................................194
Figure 112 : Diagramme de diffraction des rayons X d’un film préparé avec la solution précurseur n°2 et cristallisé
couche par couche à 460°C........................................................................................................................196
Figure 113 : Résultat de l’affinement du diagramme de diffraction des rayons X du film présenté à la Figure 112,
sont présentes les réflexions théoriques de la phase NBT de structure perovskite ainsi que la soustraction
du profil simulée au profil expérimental.......................................................................................................196
Figure 114 : Micrographies MEB du film de NBT préparé avec la solution précurseur n°2 et cristallisé couche par
couche à 460°C. .........................................................................................................................................197
Figure 115 : Etude AFM du film présenté à la Figure 112 : (a) Acquisition (300x300) nm 2 et vue 3D, (b) Analyse
du profil mettant en évidence la topographie et la taille de grains...............................................................198
Figure 116 : Diagramme de diffraction des rayons X d’un film préparé avec la solution précurseur n°2, cristallisé
couche par couche à 460°C et recuit 12 heures à 500°C. ..........................................................................199
Figure 117 : Etude AFM du film présenté à la Figure 116 : (a) Acquisition (500x500) nm 2 et vue 3D, (b)
Acquisition (300x300) nm 2 et vue 3D, (c) Analyse du profil mettant en évidence la topographie et la taille de
grains. .........................................................................................................................................................200
Figure 118 : Diagramme de diffraction des rayons X d’un film préparé avec la solution précurseur n°2, cristallisé
couche par couche à 460°C et recuit 30 minutes à 750°C..........................................................................201
Figure 119 : Etude AFM du film présenté à la Figure 118 : (a) Acquisition (1000x1000) nm 2 et vue 3D, (b)
Acquisition (300x300) nm 2 et vue 3D, (c) Analyse du profil mettant en évidence la topographie et la taille de
grains. .........................................................................................................................................................202
Figure 120 : Micrographie MEB d’un film mince de NBT sur lequel ont été déposées des électrodes d’or (diamètre
= 600 µm) en vue de former un condensateur Pt/NBT/Au. .........................................................................204
Figure 121 : Courbes de la polarisation en fonction de la tension appliquée aux bornes du condensateur
(fréquence 1000Hz) formé à partir d’un film de NBT préparé avec la solution précurseur n°2 et cristallisé
couche par couche à 460°C(Vmax=20V). .....................................................................................................204
Figure 122 : Courbes de la polarisation en fonction de la tension appliquée aux bornes du condensateur
(fréquence 1000Hz) formé à partir d’un film de NBT préparé avec la solution précurseur n°2 et cristallisé à
750°C (Vmax=18V). ......................................................................................................................................205
Figure 123 : Etude d’un film de NBT préparé avec la solution précurseur n°2 et cristallisé couche par couche à
460°C. (a) Hystérésis piézoélectrique d33eff=f(V), (b) Images topographiques, tridimensionnelles puis en
contraste piézo-réponse de la surface du film.............................................................................................208
Figure 124 : Comparaison des images topographique et piézo-réponse afin d’obtenir une information sur les
domaines ferroélectriques du film de la figure précédente..........................................................................209
Figure 125 : Etude d’un film de NBT préparé avec la solution précurseur n°2, cristallisé couche par couche à
460°C puis recuit 12 heures à 500°C. Images topographiques, tridimensionnelles puis en contraste piézoréponse
de la surface du film. .....................................................................................................................210
Figure 126 : Comparaison des images topographique et piézo-réponse afin d’obtenir une information sur les
domaines ferroélectriques du film de la figure précédente..........................................................................210
Figure 127 : Etude d’un film de NBT préparé avec la solution précurseur n°2 et cristallisé à 750°C. (a) Hystérésis
piézoélectrique d33eff=f(V), (b) Images topographiques, tridimensionnelles puis en contraste piézo-réponse
de la surface du film....................................................................................................................................212
Figure 128 : Analyses thermiques couplées (ATD & TG) du xérogel préparé avec la solution précurseur du
système (a) et dérivée première de la courbe thermogravimétrique (dTG en vert) permettant de sélectionner
les températures adéquates pour le séchage et la pyrolyse des films minces............................................216
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