Texte intégral en version PDF - Epublications - Université de Limoges

Figure 138 : Evolution des diagrammes de diffraction des rayons X en fonction de le température de
recuit : (a) Xérogel issu de la solution à base de 2MOE, (b) Xérogel issu de la solution à base de
2BOE.
Le diagramme de diffraction X réalisé sur la poudre traitée à 300°C révèle
effectivement la cristallisation d’un oxyde de bismuth β ou β* qui semble se
redissoudre par réaction à l’état solide dès 400°C ou qui subit une transformation
allotropique (βδ). A 400°C, la poudre est un mélange de NBT et de cristallites de
structure fluorine (Figure 139). A plus haute température, la phase de structure
perovskite est stabilisée au détriment de la phase fluorine et la poudre est purement
composée de cristallites de NBT dès 500°C.
L’étude de la cristallisation de la phase SrBi2Nb2O9 obtenu par MOD [4] a
permis de mettre en évidence l’apparition d’une phase de structure fluorine. Sa
composition chimique est néanmoins difficile à évaluer à cause de l’impossibilité
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