Elektrizität und Magnetismus - Physik-Institut - Universität Zürich
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des Wien’schen Filters Kap.4.2.5) einstellt: q E H = q v B <strong>und</strong> E H = vB.<br />
Senkrecht zum Strom I kann zwischen den gegenüberliegenden, geladenen Flächen des<br />
Metalles die Hallspannung V H gemessen werden: V H = E H a = v − B a.<br />
Mit der Beweglichkeit b − <strong>und</strong> der Geschwindigkeit ⃗v − = −b −<br />
⃗ E sowie | ⃗ E| =<br />
V<br />
l = IR l<br />
= I<br />
σA<br />
ist<br />
V H = −b − I B<br />
σ · d<br />
<strong>und</strong> für beide Ladungen<br />
V H = b + − b −<br />
σ<br />
· I B d = c · IB d ,<br />
es gibt nur eine Hall-Spannung, wenn b − ≠ b + ist. Die Hall-Konstante c = (b + − b − )/σ<br />
Hall-Konstante [ ]<br />
m kann positive <strong>und</strong> negative Werte annehmen <strong>und</strong> damit zu<br />
2<br />
As<br />
positiven <strong>und</strong> negativen Hall-Spannungen führen. Der Wert<br />
c(Cu)= −5.3 · 10 −11<br />
für Wismut ist abnorm gross. Da V<br />
c(Bi)= −5.0 · 10 −7<br />
H ∝ B/σ ist, können<br />
mit dem Hall-Effekt Magnetfelder oder die Leitfähigkeit σ<br />
c(Cd)= +6.0 · 10 −11 gemessen werden.<br />
1980 entdeckten Klaus von Klitzing 54 , G. Dorda <strong>und</strong> M. Pepper, dass in dünnen praktisch<br />
zweidimensionalen Silizium-MOSFET’s bei hohen Magnetfeldern (≈ 20 T) <strong>und</strong> tiefen<br />
Temperaturen (≈ 1 K) der Hall-Widerstand R H = V H /I = c · B/d als Funktion der<br />
angelegten Spannung (Gatespannung) charakteristische Stufen aufweist, die mit der zweidimensionalen<br />
räumlichen Quantisierung der Elektronendichte erklärt werden können.<br />
Der reziproke Widerstand 1/R H folgt mit 1/B in Stufen genau bei ganzen Zahlen von<br />
h/(e 2 R H ). Mit diesem Quanten-Hall-Effekt konnte mit hoher Genauigkeit die Kombination<br />
der Naturkonstanten h/e 2 oder auch die Feinstrukturkonstante α gemessen werden.<br />
4.2.7 Bewegung eines geladenen Teilchens im Solenoidfeld<br />
x<br />
B → y<br />
x<br />
Einhullende " sin z/2 Die allgemeine Bahnkurve eines geladenen<br />
Quelle=Bild Quelle v z =konst Bild<br />
B →<br />
z<br />
Teilchens in einem homogenen Magnetfeld<br />
ist eine Schraubenlinie (vgl. Praktikumsversuch<br />
e/m). Es ist einfach zu zeigen,<br />
dass ein Solenoidfeld in erster Ordnung<br />
(v z =konst) wie eine Linse für geladene<br />
Teilchen fokussierend wirkt (Fig.).<br />
Mit der Geschwindigkeit des Teilchens ⃗v = (v x ,v y ,v z ), v z =konst <strong>und</strong> v x ,v y ≪ v z variabel,<br />
v ⊥ = √ vx 2 + vx<br />
2 in der x-y-Ebene ist<br />
qv ⊥ B = mv2 ⊥<br />
R<br />
⇒ v ⊥<br />
R = ω C = qB m die Zyklotronfrequenz, T C = 2πR<br />
v ⊥<br />
= 2πm<br />
(qB)<br />
die Umlaufzeit unabhängig von v ⊥ <strong>und</strong> R. Damit werden alle Teilchen in der x-y-Ebene<br />
nach der konstanten Zeit T C im Ursprung dem Bildpunkt bei z = v z T C fokussiert 55 .<br />
Laufende Energieverluste des Teilchens durch Ionisation <strong>und</strong> Anregung im Gas oder<br />
Materie ändern die Schraubenlinie in eine Spirale (siehe Blasenkammeraufnahmen).<br />
54 Klaus von Klitzing Nobelpreis 1985, z.B. <strong>Physik</strong>alische Blätter 41(1985)357 <strong>und</strong> 401.<br />
MOSFET: Metal Oxide Semiconductor Field-Effect Transistor<br />
55 Zur Fokussierung geladener Teilchenstrahlen werden vor allem magnetische Quadrupol- <strong>und</strong> Sextupollinsen<br />
für hochenergetische Teilchen (z.B. PSI, CERN) <strong>und</strong> in der Elektronenmikroskopie [H.Rose et<br />
al. Phys.Blätter 54(1998)411] benutzt.<br />
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