Bulletin 2011/10 - European Patent Office

(G01N) I.1(2)
(84) AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR
GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK
MT NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
BA ME RS
(30) 31.08.2009 JP 2009199613
(54) • Probenverarbeitungssystem, Verfahren
zum Sparen von Elektrizität, die durch das
Probenverarbeitungssystem verbraucht
wird, und übergangsloses Speichermedium
• Sample processing system, method for
saving electricity consumed by sample
processing system, and non-transitory
storage medium
• Système de traitement d'échantillons, procédé
pour économiser l'électricité
consommée par le système de traitement
et support de stockage non transitoire
(71) SYSMEX CORPORATION, 5-1, Wakinohama-
Kaigandori 1-chome, Chuo-ku, Kobe-shi,
Hyogo 651-0073, JP
(72) Mizumoto, Toru, Hyogo 651-0073, JP
Toyoda, Akio, Hyogo 651-0073, JP
(74) HOFFMANN EITLE, Patent- und Rechtsanwälte
Arabellastraße 4, 81925 München, DE
(51) G01N 35/00 (11) 2 293 083 A1
G01N 35/10
(25) Ja (26) En
(21) 09766497.3 (22) 12.05.2009
(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB
GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT
NL NO PL PT RO SE SI SK TR
AL BA RS
(86) JP 2009/058864 12.05.2009
(87) WO 2009/154049 2009/52 23.12.2009
(30) 17.06.2008 JP 2008158285
(54) • AUTOMATISCHES ANALYSEGERÄT
• AUTOMATIC ANALYZER
• ANALYSEUR AUTOMATIQUE
(71) Hitachi High-Technologies Corporation, 1-
24-14, Nishi Shinbashi, Minato-ku Tokyo
105-8717, JP
(72) SHIBA Masaki, Hitachinaka-shi Ibaraki 312-
8504, JP
MIMURA Tomonori, Hitachinaka-shi Ibaraki
312-8504, JP
HAMAZUMI Yuko, Hitachinaka-shi Ibaraki
312-8504, JP
(74) Strehl, Peter, Patentanwälte Strehl Schübel-
Hopf & Partner Maximilianstrasse 54, 80538
München, DE
G01N 35/00 → (51) G01F 23/292
G01N 35/10 → (51) G01N 35/00
G01N 37/00 → (51) C12M 1/00
(51) G01P 5/10 (11) 2 293 084 A1
G01K 7/18 G01F 1/684
H01C 7/02
(25) En (26) En
(21) 10009399.6 (22) 16.01.2006
(84) DE
(30) 07.09.2005 JP 2005259902
(54) • Strömungssensor mit Metallfilm-Widerstand
• Flow sensor with metal film resistor
• Capteur d'écoulement avec résistance au
film métallique
(71) Hitachi, Ltd., 6-6, Marunouchi 1-chome,
Chiyoda-ku Tokyo 100-8280, JP
(72) Sakuma, Noriyuki, Tokyo 100-8220, JP
Yamamoto, Naoki, Tokyo 100-8220, JP
Takeda, Kenichi, Tokyo 100-8220, JP
Fukuda, Hiroshi, Tokyo 100-8220, JP
Europäisches Patentblatt
European Patent Bulletin
Bulletin européen des brevets
(74) Strehl Schübel-Hopf & Partner, Maximilianstrasse
54, 80538 München, DE
(62) 06000837.2 / 1 762 851
G01P 15/00 → (51) B01F 11/00
(51) G01R 1/04 (11) 2 293 085 A1
G01R 15/12 G01R 19/25
G01D 11/24 H01M 2/10
H05K 5/00 H05K 5/02
(25) De (26) De
(21) 10009267.5 (22) 07.09.2010
(84) AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR
GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK
MT NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
BA ME RS
(30) 07.09.2009 DE 202009012059 U
(54) • Messinstrument
• Measuring device
• Appareil de mesure
(71) Conrad Electronic SE, Klaus-Conrad-Strasse
1, 92240 Hirschau, DE
(72) Lang, Erhard, 92546 Schmidgaden, DE
(74) Stippl, Hubert, Patentanwälte Freiligrathstrasse
7a, 90482 Nürnberg, DE
(51) G01R 1/067 (11) 2 293 086 A1
(25) En (26) En
(21) 10012000.5 (22) 31.10.2005
(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB
GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC NL PL PT RO
SE SI SK TR
(30) 31.10.2005 EP 05388093
(54) • Sonde zum Testen elektrischer Eigenschaften
von Testproben
• A probe for testing electrical properties of a
rest sample
• Sonde pour tester les propriétés électriques
d'un échantillon d'essai
(71) Capres A/S, DTU Bygn. 373, 2800 Lyngby,
DK
(72) Petersen, Dirch, 2800 Lyngby, DK
(74) Nielsen, Henrik Sten, et al, Budde Schou A/S
Vester Søgade 10, 1601 Copenhagen V, DK
(62) 05388093.6 / 1 780 550
(51) G01R 13/02 (11) 2 293 087 A2
(25) En (26) En
(21) 10251505.3 (22) 27.08.2010
(84) AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR
GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK
MT NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
BA ME RS
(30) 08.10.2009 US 576034
04.09.2009 US 240054 P
(54) • Prüf- und Messgerät und Verfahren zur
Bereitstellung einer Nacherfassungsauslösesteuerung
und -präsentation
• Test and measurement instrument and
method for providing post-acquisition
trigger control and presentation
• Instrument de test et de mesure, procédé
de fourniture de commande de déclenchement
post-acquisition et présentation
(71) Tektronix, Inc., 14150 SW Karl Braun Drive
P.O. Box 500, M/S 50-LAW, Beaverton,
Oregon 97077-0001, US
(72) Bartlett, Josiah A, Forest Grove Oregon
97116, US
Veith, Kristie L., Portland Oregon 97229, US
Sullivan, Steven K., Beaverton Oregon
97006, US
(74) Brinck, David John Borchardt, et al, R.G.C.
Jenkins & Co 26 Caxton Street, London
SW1H 0RJ, GB
(51) G01R 13/02 (11) 2 293 088 A2
(25) En (26) En
283
Anmeldungen
Applications
Demandes (10/2011) 09.03.2011
(21) 10251507.9 (22) 27.08.2010
(84) AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR
GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK
MT NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
BA ME RS
(30) 08.10.2009 US 576045
04.09.2009 US 240054 P
(54) • Prüf- und Messgerät und Verfahren zur
Bereitstellung einer Nacherfassungsauslösesteuerung
und -präsentation
• Test and measurement instrument and
method for providing post-acquisition
trigger control and presentation
• Instrument de test et de mesure, procédé
de fourniture de commande de déclenchement
post-acquisition et présentation
(71) Tektronix, Inc., 14150 SW Karl Braun Drive
P.O. Box 500, M/S 50-LAW, Beaverton,
Oregon 97077-0001, US
(72) Bartlett, Josiah A, Forest Grove Oregon
97116, US
Veith, Kristie L., Portland Oregon 97229, US
Sullivan, Steven K., Beaverton Oregon
97006, US
(74) Brinck, David John Borchardt, et al, R.G.C.
Jenkins & Co 26 Caxton Street, London
SW1H 0RJ, GB
G01R 15/12 → (51) G01R 1/04
G01R 19/165 → (51) H01M 2/20
G01R 19/25 → (51) G01R 1/04
(51) G01R 31/26 (11) 2 293 089 A1
(25) De (26) De
(21) 09169281.4 (22) 02.09.2009
(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB
GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT
NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
AL BA RS
(54) • Stringausfallüberwachung
• String malfunction monitoring
• Surveillance de panne de chaîne
(71) SMA Solar Technology AG, Sonnenallee 1,
34266 Niestetal, DE
(72) Bettenwort, Dr.-Ing. Gerd, 34119, Kassel, DE
Klein, Dr. rer. nat. Jens, 37075, Göttingen,
DE
Schäfer, Marc, 34233, Fuldatal, DE
Fischer, Jochen, 34255, Baunatal, DE
Frees, Wolfgang, 34131, Kassel, DE
Victor, Dr.-Ing. Matthias, 34266, Niestetal,
DE
(74) Rehberg Hüppe + Partner, Patentanwälte
Nikolausberger Weg 62, 37073 Göttingen,
DE
(51) G01R 31/36 (11) 2 293 090 A2
(25) Fr (26) Fr
(21) 10290400.0 (22) 16.07.2010
(84) AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR
GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK
MT NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
BA ME RS
(30) 02.09.2009 FR 0904159
(54) • Verbessertes Verfahren zur Schätzung nicht
messbarer Charakteristiken eines elektrochemischen
Systems
• Improved method for estimating nonmeasurable
characteristics of an electrochemical
system
• Méthode améliorée pour estimer les
caractéristiques non mesurables d'un système
électrochimique
(71) IFP Energies Nouvelles, 1 & 4, avenue de
Bois-Préau, 92852 Rueil-Malmaison Cedex,
FR