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Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

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tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />

Chapitre 3 : <strong>Etu<strong>de</strong></strong> <strong>de</strong> <strong>capacités</strong> MIM <strong>à</strong> <strong>base</strong> <strong>de</strong> STO et BTO<br />

Les analyses (Tableau 3-11) montr<strong>en</strong>t que l’échantillon n°10 est bi<strong>en</strong> stœchiométrique, alors<br />

que l’échantillon n°3 prés<strong>en</strong>te un rapport Ti/Ba inférieur <strong>à</strong> 1. Ceci peut s’expliquer par le fait<br />

que l’échantillon n°10 a subi une repulvérisation du dépôt, grâce <strong>à</strong> l’assistance ionique, plus<br />

int<strong>en</strong>se que l’échantillon n°3 (cf annexe 2).<br />

Le r<strong>en</strong><strong>de</strong>m<strong>en</strong>t <strong>de</strong> pulvérisation d’un atome <strong>de</strong> la cible dép<strong>en</strong>d <strong>de</strong> sa masse Mc (ici Ba, Ti ou O)<br />

ainsi que <strong>de</strong> celle <strong>de</strong> l’atome inci<strong>de</strong>nt Mi (ici Xe) par le biais d’une fonction <strong>de</strong> pulvérisation<br />

Fp :<br />

F<br />

p<br />

M iM<br />

c<br />

= 4<br />

Équation 3-18<br />

( ) 2<br />

M + M<br />

i<br />

c<br />

Ainsi, Fp = 1 si les masses Mi et Mc sont égales et Fp < 1 si les masses Mi et Mc sont<br />

différ<strong>en</strong>tes (Fp est d’autant plus faible que les masses sont éloignées).<br />

Dans notre cas la masse du Ba (137,33 g/atome) est plus proche <strong>de</strong> celle du Xe<br />

(131,30 g/atome) que celle du Ti (47,90 g/atome) ; le r<strong>en</strong><strong>de</strong>m<strong>en</strong>t <strong>de</strong> pulvérisation du Ba est<br />

donc plus élevé que celui du Ti.<br />

Le rapport O/Ba est supérieur <strong>à</strong> 3 pour l’échantillon n°3, toutefois étant donnée la précision <strong>de</strong><br />

la mesure, on ne peut pas dire si cet échantillon comporte un excès d’oxygène.<br />

Tableau 3-11 : Résultats d’analyse RBS sur les échantillons <strong>de</strong> BTO n°3 et n°10.<br />

Echantillon Ti/Ba (± 0,02) O/Ba (± 0,1) Ta (%)<br />

n°3 0,9 3,1 -<br />

n°10 1 3 0,012<br />

La prés<strong>en</strong>ce <strong>de</strong> tantale dans la couche n°10 peut s’expliquer par une pollution due aux<br />

filam<strong>en</strong>ts <strong>de</strong>s canons <strong>à</strong> ions : au cours <strong>de</strong> ce dépôt, il y a <strong>en</strong> effet eu rupture <strong>de</strong>s filam<strong>en</strong>ts <strong>de</strong>s<br />

<strong>de</strong>ux canons (sans pour autant stopper le dépôt, les filam<strong>en</strong>ts <strong>de</strong> rechange ayant pris le relai).<br />

Le dépôt n°3 a pu être réalisé sans changem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> filam<strong>en</strong>t, ce qui peut expliquer que l’on ne<br />

retrouve pas <strong>de</strong> tantale dans cet échantillon.<br />

Les écarts <strong>à</strong> la stœchiométrie dans le cas <strong>de</strong> l’échantillon n°3 peuv<strong>en</strong>t être <strong>à</strong> l’origine d’une<br />

constante diélectrique plus faible.<br />

2.5.3. Mesure <strong>de</strong>s contraintes<br />

Nous avons mesuré la contrainte mécanique d’un dépôt réalisé dans les conditions <strong>de</strong><br />

l’échantillon n°10 avant et après recuit. Le calcul <strong>de</strong> la contrainte <strong>de</strong> la couche se fait <strong>à</strong> partir<br />

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