Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007
Annexes
Montage de Bragg-Brentano
Raies de diffraction très fines
et intenses
Montage à focalisation
F 1
Source S Filtre Kβ
C
Cercle du
diffractomètre
Cercle de
focalisation
F2
échantillon
Figure A7-2 : Montage de Bragg – Brentano à focalisation.
F 3
F 4
θ
θ
détecteur
On se place en position de Bragg pour un pic donné hkl, sur lequel on est sûr que seul
diffracte le matériau intéressant (exemple : attention à la superposition du STO et du Pt pour
2θ > 40°). On verra donc les plans hkl parallèles à la surface. On notera qu’il est possible
d’observer des plans autres que parallèles à la surface en conservant le même angle θ mais en
modifiant l’angle 2θ (comme pour les rayons X rasants par exemple). Les conditions de
Bragg sont donc valables pour des plans non parallèles à la surface.
Une fois l’angle θ fixé, on fait un balayage avec le détecteur (angle 2θ) autour de la position
de Bragg. Les fentes fines ajoutées permettent donc d’observer avec plus de précision la
contribution de chaque distance interréticulaire (qui varie avec les contraintes internes et la
taille des cristallites) correspondant à une famille de plans.
Dans l’exploitation des résultats, on enlève la contribution de la raie Kα2 qui est toujours
présente. On la voit bien lorsque les raies sont très fines. On enlève également la contribution
expérimentale due à l’instrument (de l’ordre de quelques centièmes de degrés). Les formules
de calcul sont données sur la Figure A7-3.
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