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Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

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tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />

Chapitre 3 : <strong>Etu<strong>de</strong></strong> <strong>de</strong> <strong>capacités</strong> MIM <strong>à</strong> <strong>base</strong> <strong>de</strong> STO et BTO<br />

<strong>de</strong> la mesure <strong>de</strong> la flèche d’un dépôt réalisé sur un substrat <strong>de</strong> diamètre 100mm, d’après la<br />

formule <strong>de</strong> Stoney (équation3-7).<br />

Les résultats montr<strong>en</strong>t que le dépôt non recuit est soumis <strong>à</strong> une contrainte <strong>en</strong> compression<br />

σ = -230 MPa. Pour étudier l’impact <strong>de</strong> la cristallisation <strong>de</strong> la couche sur la contrainte, on<br />

réalise une mesure après un recuit <strong>à</strong> 650°C p<strong>en</strong>dant 30mn sous air. On fait l’hypothèse que le<br />

recuit ne modifie pas la contribution <strong>de</strong>s autres <strong>couches</strong> <strong>de</strong> l’empilem<strong>en</strong>t sur la contrainte.<br />

Après recuit, on calcule une contrainte <strong>en</strong> t<strong>en</strong>sion σ’=880 MPa. Si l’on suppose que les<br />

<strong>couches</strong> situées sous la BTO ne sont perturbées ni par le dépôt ni par le recuit du BTO, la<br />

contrainte du BTO après dépôt et recuit est donc une t<strong>en</strong>sion égale <strong>à</strong> σ’-σ = 1110 MPa.<br />

Cette contrainte est très élevée et pourrait être une explication <strong>à</strong> la faiblesse <strong>de</strong> la constante<br />

diélectrique du BTO par rapport <strong>à</strong> la littérature. Des étu<strong>de</strong>s ont <strong>en</strong> effet montré que la<br />

contrainte imposée <strong>à</strong> un dépôt <strong>en</strong> couche mince <strong>de</strong> BTO avait une influ<strong>en</strong>ce sur la constante<br />

diélectrique [17,18]. D’autre part, ces étu<strong>de</strong>s montr<strong>en</strong>t que l’influ<strong>en</strong>ce <strong>de</strong> la contrainte sur les<br />

constantes diélectriques suivant l’axe a et l’axe c n’est pas i<strong>de</strong>ntique. Les étu<strong>de</strong>s<br />

complém<strong>en</strong>taires sur la diffraction par rayon X qui vont être effectuées pour déterminer <strong>de</strong><br />

façon plus précise l’ori<strong>en</strong>tation <strong>de</strong>s grains permettront donc aussi <strong>de</strong> conclure sur l’impact <strong>de</strong><br />

la contrainte sur les résultats électriques obt<strong>en</strong>us.<br />

2.6. Conclusions du plan d’expéri<strong>en</strong>ces sur l’optimisation du BTO<br />

Le plan d’expéri<strong>en</strong>ces réalisé a permis <strong>de</strong> déterminer les paramètres <strong>de</strong> dépôt ayant une<br />

influ<strong>en</strong>ce sur la constante diélectrique (température <strong>de</strong> dépôt, paramètres du canon principal,<br />

courant du canon d’assistance, débit d’oxygène et épaisseur) et sur la température <strong>de</strong><br />

transition faible/forte constante diélectrique du BTO (température <strong>de</strong> dépôt, épaisseur <strong>de</strong> BTO<br />

et courants <strong>de</strong>s canons principal et d’assistance). Les résultats obt<strong>en</strong>us nous permett<strong>en</strong>t <strong>de</strong><br />

définir les meilleures conditions d’élaboration pour obt<strong>en</strong>ir une constante diélectrique élevée<br />

et une température <strong>de</strong> transition la plus basse possible.<br />

Ainsi, pour augm<strong>en</strong>ter la constante diélectrique il faut principalem<strong>en</strong>t augm<strong>en</strong>ter la<br />

température <strong>de</strong> dépôt alors que pour diminuer la température <strong>de</strong> transition il faut diminuer la<br />

température <strong>de</strong> dépôt. Il <strong>en</strong> est <strong>de</strong> même pour le courant du canon d’assistance. Il faudra donc<br />

faire <strong>de</strong>s compromis pour optimiser le matériau.<br />

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