13.12.2012 Views

Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />

Chapitre 5 : Influ<strong>en</strong>ce du procédé d’élaboration <strong>de</strong>s <strong>capacités</strong> sur leurs performances<br />

10 -4 A/cm² <strong>à</strong> 0,7 MV/cm et 125°C, soit trois déca<strong>de</strong>s <strong>de</strong> plus que les mesures <strong>à</strong> température<br />

ambiante).<br />

Lors <strong>de</strong> l’injection via l’électro<strong>de</strong> supérieure, les caractéristiques diffèr<strong>en</strong>t s<strong>en</strong>siblem<strong>en</strong>t : dans<br />

le cas du Pt les courants atteign<strong>en</strong>t 10 -4 A/cm² <strong>à</strong> 0,7 MV/cm et 125°C, alors que pour l’Au, ils<br />

dépass<strong>en</strong>t 10 -3 A/cm² même pour les températures les plus faibles. En effet, la structure<br />

Au/STO/Pt prés<strong>en</strong>te <strong>de</strong>s courants <strong>de</strong> fuite d’<strong>en</strong>viron 10 -3 A/cm² <strong>à</strong> 125°C et <strong>à</strong> 0,4 MV/cm<br />

seulem<strong>en</strong>t.<br />

Dans le cas <strong>de</strong> l’Au (champ négatif), on distingue égalem<strong>en</strong>t nettem<strong>en</strong>t les seuils <strong>de</strong><br />

conduction au-<strong>de</strong>l<strong>à</strong> <strong>de</strong>squels les courants <strong>de</strong> fuite augm<strong>en</strong>t<strong>en</strong>t rapi<strong>de</strong>m<strong>en</strong>t : <strong>de</strong> 0,17 MV/cm <strong>à</strong><br />

125°C <strong>à</strong> 0,28 MV/cm <strong>à</strong> température ambiante.<br />

Pour les valeurs <strong>de</strong> champ électrique élevées, les p<strong>en</strong>tes <strong>de</strong>s courbes, nettem<strong>en</strong>t supérieures <strong>à</strong><br />

celle <strong>de</strong>s faibles champs, indiqu<strong>en</strong>t que le transport est plutôt le fait <strong>de</strong> charges injectées,<br />

piégées ou relaxées dans les défauts structuraux.<br />

2.4. <strong>Etu<strong>de</strong></strong>s <strong>de</strong>s hauteurs <strong>de</strong> barrière<br />

L’étu<strong>de</strong> <strong>en</strong> température permet égalem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> déterminer les hauteurs <strong>de</strong>s barrières<br />

métal/isolant. La métho<strong>de</strong> prés<strong>en</strong>tée s’appuie sur le fait que la conduction au travers du<br />

diélectrique suit un régime Schottky (prés<strong>en</strong>té au chapitre 1 §2.3.4) pour un intervalle <strong>de</strong><br />

champ précisé ultérieurem<strong>en</strong>t.<br />

2.4.1. Méthodologie<br />

Lorsque le courant <strong>de</strong> fuite traversant le diélectrique est dû <strong>à</strong> l’émission thermo-ionique <strong>de</strong>s<br />

porteurs <strong>de</strong> charge au travers <strong>de</strong> la barrière Schottky, il répond <strong>à</strong> la loi suivante :<br />

1 2<br />

⎡<br />

3 ⎤<br />

2 ⎛ W ⎛ ⎞<br />

B ⎞ 1 q E<br />

J = ⎜−<br />

⎟ ⎢<br />

⎜<br />

⎟<br />

S AT exp exp<br />

⎥<br />

Équation 5-4<br />

⎝ kT ⎠ ⎢kT<br />

⎣ ⎝ 4πε<br />

rε<br />

0 ⎠ ⎥⎦<br />

où A est la constante <strong>de</strong> Richardson, WB la hauteur <strong>de</strong> barrière métal/isolant et k la constante<br />

<strong>de</strong> Boltzmann.<br />

La métho<strong>de</strong> consiste <strong>à</strong> linéariser la loi <strong>de</strong> Schottky (équation 5-4) pour extraire le paramètre<br />

relatif <strong>à</strong> la hauteur <strong>de</strong> barrière WB.<br />

196

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!