Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...
Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...
Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />
Chapitre 5 : Influ<strong>en</strong>ce du procédé d’élaboration <strong>de</strong>s <strong>capacités</strong> sur leurs performances<br />
10 -4 A/cm² <strong>à</strong> 0,7 MV/cm et 125°C, soit trois déca<strong>de</strong>s <strong>de</strong> plus que les mesures <strong>à</strong> température<br />
ambiante).<br />
Lors <strong>de</strong> l’injection via l’électro<strong>de</strong> supérieure, les caractéristiques diffèr<strong>en</strong>t s<strong>en</strong>siblem<strong>en</strong>t : dans<br />
le cas du Pt les courants atteign<strong>en</strong>t 10 -4 A/cm² <strong>à</strong> 0,7 MV/cm et 125°C, alors que pour l’Au, ils<br />
dépass<strong>en</strong>t 10 -3 A/cm² même pour les températures les plus faibles. En effet, la structure<br />
Au/STO/Pt prés<strong>en</strong>te <strong>de</strong>s courants <strong>de</strong> fuite d’<strong>en</strong>viron 10 -3 A/cm² <strong>à</strong> 125°C et <strong>à</strong> 0,4 MV/cm<br />
seulem<strong>en</strong>t.<br />
Dans le cas <strong>de</strong> l’Au (champ négatif), on distingue égalem<strong>en</strong>t nettem<strong>en</strong>t les seuils <strong>de</strong><br />
conduction au-<strong>de</strong>l<strong>à</strong> <strong>de</strong>squels les courants <strong>de</strong> fuite augm<strong>en</strong>t<strong>en</strong>t rapi<strong>de</strong>m<strong>en</strong>t : <strong>de</strong> 0,17 MV/cm <strong>à</strong><br />
125°C <strong>à</strong> 0,28 MV/cm <strong>à</strong> température ambiante.<br />
Pour les valeurs <strong>de</strong> champ électrique élevées, les p<strong>en</strong>tes <strong>de</strong>s courbes, nettem<strong>en</strong>t supérieures <strong>à</strong><br />
celle <strong>de</strong>s faibles champs, indiqu<strong>en</strong>t que le transport est plutôt le fait <strong>de</strong> charges injectées,<br />
piégées ou relaxées dans les défauts structuraux.<br />
2.4. <strong>Etu<strong>de</strong></strong>s <strong>de</strong>s hauteurs <strong>de</strong> barrière<br />
L’étu<strong>de</strong> <strong>en</strong> température permet égalem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> déterminer les hauteurs <strong>de</strong>s barrières<br />
métal/isolant. La métho<strong>de</strong> prés<strong>en</strong>tée s’appuie sur le fait que la conduction au travers du<br />
diélectrique suit un régime Schottky (prés<strong>en</strong>té au chapitre 1 §2.3.4) pour un intervalle <strong>de</strong><br />
champ précisé ultérieurem<strong>en</strong>t.<br />
2.4.1. Méthodologie<br />
Lorsque le courant <strong>de</strong> fuite traversant le diélectrique est dû <strong>à</strong> l’émission thermo-ionique <strong>de</strong>s<br />
porteurs <strong>de</strong> charge au travers <strong>de</strong> la barrière Schottky, il répond <strong>à</strong> la loi suivante :<br />
1 2<br />
⎡<br />
3 ⎤<br />
2 ⎛ W ⎛ ⎞<br />
B ⎞ 1 q E<br />
J = ⎜−<br />
⎟ ⎢<br />
⎜<br />
⎟<br />
S AT exp exp<br />
⎥<br />
Équation 5-4<br />
⎝ kT ⎠ ⎢kT<br />
⎣ ⎝ 4πε<br />
rε<br />
0 ⎠ ⎥⎦<br />
où A est la constante <strong>de</strong> Richardson, WB la hauteur <strong>de</strong> barrière métal/isolant et k la constante<br />
<strong>de</strong> Boltzmann.<br />
La métho<strong>de</strong> consiste <strong>à</strong> linéariser la loi <strong>de</strong> Schottky (équation 5-4) pour extraire le paramètre<br />
relatif <strong>à</strong> la hauteur <strong>de</strong> barrière WB.<br />
196