Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...
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tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />
Chapitre 6 : Capacités MIM STO/BTO<br />
Dubourdieu et al. [9] ont trouvé, quant <strong>à</strong> eux, que la constante diélectrique diminue lorsque la<br />
périodicité diminue. Toutefois, dans leur étu<strong>de</strong>, l’épaisseur totale <strong>de</strong> l’empilem<strong>en</strong>t diminue<br />
égalem<strong>en</strong>t. Ce n’est donc pas <strong>en</strong> contradiction avec ce que l’on vi<strong>en</strong>t <strong>de</strong> voir.<br />
En effet, lorsque la périodicité ne change pas et que seule l’épaisseur est réduite, on observe<br />
une diminution <strong>de</strong> la constante diélectrique (Figure 6-6). Ceci est expliqué par un effet <strong>de</strong><br />
taille <strong>de</strong> grain : la taille <strong>de</strong>s grains augm<strong>en</strong>te avec l’épaisseur [18,10] or on a vu<br />
précé<strong>de</strong>mm<strong>en</strong>t que la constante diélectrique augm<strong>en</strong>tait avec la taille <strong>de</strong> grain.<br />
Figure 6-6 : Evolution <strong>de</strong> la constante diélectrique d’un empilem<strong>en</strong>t STO/BTO avec son épaisseur [18].<br />
En ce qui concerne la transition <strong>de</strong> phase paraélectrique – ferroélectrique, une étu<strong>de</strong> par<br />
spectrométrie Raman polarisée sur <strong>de</strong>s multi<strong>couches</strong> ayant <strong>de</strong>s périodicités d’empilem<strong>en</strong>t <strong>de</strong><br />
six <strong>à</strong> dix mailles montre que la transition est diffuse et décalée vers 650-700 K alors que les<br />
transitions dans le cas <strong>de</strong> STO et BTO ont lieu <strong>à</strong> <strong>de</strong>s températures plus faible (35 K extrapolé<br />
pour STO et 393 K pour BTO). Aucune autre transition n’est observée vers les basses<br />
températures jusqu’<strong>à</strong> 77 K [21].<br />
Tabata et al. [2] vont égalem<strong>en</strong>t dans ce s<strong>en</strong>s <strong>en</strong> montrant que la constante diélectrique<br />
d’empilem<strong>en</strong>t STO/BTO peut augm<strong>en</strong>ter jusqu’<strong>à</strong> 200°C voire plus, les mesures n’ayant pas<br />
été réalisées pour <strong>de</strong>s températures plus élevées. Ils suppos<strong>en</strong>t une stabilisation <strong>de</strong> la phase<br />
quadratique du BTO due aux contraintes <strong>en</strong> compression induites par le STO dans le BTO.<br />
Certains auteurs ont montré que les multi<strong>couches</strong> STO/BTO prés<strong>en</strong>t<strong>en</strong>t <strong>de</strong>s constantes<br />
diélectriques plus élevées que STO, BTO et que la solution soli<strong>de</strong> (Ba0,5,Sr0,5)TiO3<br />
[2,6,11,15,18,22]. En effet, le principal défaut <strong>de</strong>s films <strong>minces</strong> <strong>de</strong> STO, BTO et (Ba,Sr)TiO3<br />
pour les applications <strong>en</strong> microélectronique semble être la diminution <strong>de</strong> leur constante<br />
diélectrique avec l’épaisseur du film. Tabata et al. [2] ont comparé <strong>de</strong>s empilem<strong>en</strong>ts<br />
STO/BTO <strong>à</strong> la solution soli<strong>de</strong> (Sr0,5,Ba0,5)TiO3 et ont observé que pour <strong>de</strong>s épaisseurs<br />
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