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Anais 2º Congresso Latino-Americano de Restauraçao de Metais

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técnicas são usualmente capazes <strong>de</strong> <strong>de</strong>tectar pequenos teores (ou seja,<br />

apresentam baixos limites mínimos <strong>de</strong> <strong>de</strong>tecção 1 ), mas esta característica é<br />

especialmente <strong>de</strong>stacada no PIXE para elementos leves como, por exemplo, o<br />

alumínio. A técnica <strong>de</strong> EDXRF, por outro lado, po<strong>de</strong> mostrar limites <strong>de</strong> <strong>de</strong>tecção<br />

baixos para elementos mais pesados. O EDXA em MEV, por sua vez, embora<br />

apresente tipicamente limites mínimos <strong>de</strong> <strong>de</strong>tecção um pouco maiores, consegue<br />

<strong>de</strong>tectar elementos mais leves, como por exemplo C. O EDXA-MEV po<strong>de</strong> ser<br />

realizado em região extremamente pequena e localizada (diâmetros da or<strong>de</strong>m <strong>de</strong><br />

1 a 2µm), enquanto as outras duas técnicas cobrem áreas com diâmetros<br />

tipicamente da or<strong>de</strong>m <strong>de</strong> 1 a 5mm.<br />

Estas três técnicas fornecem composições elementares. As duas outras<br />

técnicas utilizadas ⎯ espectroscopia Raman e difração <strong>de</strong> raios X ⎯ fornecem<br />

informações sobre compostos. A primeira baseia-se em energias características,<br />

e a segunda em estrutura cristalina.<br />

PIXE (Particle Induced X-Ray Emission)<br />

A técnica PIXE permite analisar os elementos presentes nas amostras através <strong>de</strong><br />

seus raios X característicos. A excitação é feita por um feixe <strong>de</strong> prótons produzido<br />

no acelerador do Laboratório <strong>de</strong> Análise <strong>de</strong> Materiais por Feixes Iônicos (LAMFI),<br />

no Instituto <strong>de</strong> Física da USP. Recentemente foi instalado no LAMFI uma linha <strong>de</strong><br />

feixe externo on<strong>de</strong> o feixe <strong>de</strong> próton <strong>de</strong> 2.4 MeV, após passar por uma janela <strong>de</strong><br />

Kapton <strong>de</strong> 50µm, atinge as amostras no ar com energia <strong>de</strong> aproximadamente 1.0<br />

MeV 2 .<br />

A Figura 1 mostra um esquema do arranjo experimental, e a Figura 2<br />

mostra fotos do equipamento. Um exemplo <strong>de</strong> espectro é mostrado na Figura 3.<br />

São observados picos a partir do alumínio (não indicado, pois o teor <strong>de</strong>ste<br />

elemento era muito pequeno neste ponto da peça). Observa-se também um pico<br />

intenso <strong>de</strong> argônio, sempre observado em análises PIXE feitas ao ar. O uso <strong>de</strong><br />

um feixe externo <strong>de</strong> prótons permite a análise <strong>de</strong> diferentes materiais e peças<br />

incompatíveis com as câmaras <strong>de</strong> vácuo. Uma aplicação imediata <strong>de</strong>sta nova<br />

facilida<strong>de</strong> foi a análise <strong>de</strong> materiais <strong>de</strong> corrosão <strong>de</strong> peças metálica do Museu <strong>de</strong><br />

Arqueologia e Etnologia da USP (MAE), cujos objetos arqueológicos são gran<strong>de</strong>s<br />

e difíceis <strong>de</strong> serem analisados em câmaras <strong>de</strong> vácuo.<br />

atmosfera<br />

vácuo<br />

amostra<br />

feixe<br />

janela <strong>de</strong>tetor<br />

50µm Kapton<br />

2.4 MeV 1.0 MeV<br />

1 H<br />

Figura 1 – Esquema do arranjo experimental <strong>de</strong> PIXE externo<br />

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