Anais 2º Congresso Latino-Americano de Restauraçao de Metais

REFERÊNCIAS
1. Salum, M.H.L e Ceravollo, S. M., “Considerações sobre o perfil da coleção
africana e afro-brasileira no MAE-USP”, Revista do Museu de Arquelogia e
Etnologia, São Paulo, 167-185, 1993.
2. Espen, P. Van, Nullens, H. e Adams, F., “A computer analysis of X-ray
fluorescence spectra”, Nuclear Instruments and Methods, v. 142, p. 243-250,
1977.
3. “Binary Alloy Phase Diagrams”, Massalski, T. B., MURRAY, T. H., BENNETT,
L. H. e BAKER, H. (editores), American Society for Metals, Metal Park, Ohio,
EUA, 1986.
4. McCann, L. I., Trentelman, K., Possley, T., and Golding, B., “Corrosion of
Ancient Chinese Bronze Money Trees Studied by Raman Microscopy”, Journal
of Raman Spectroscopy, 30, 121-132, 1999.
5. MARABELLI, M. Conservazione e Restauro dei Metalli d'Arte, Accademia
Nazionale dei Lincei, Roma, 1995.
Notas:
1. Os limites mínimos de detecção destas técnicas dependem de muitas variáveis da
amostra e de cada equipamento específico, como a energia de excitação, o tipo
de matriz, o número atômico do elemento analisado, o espectro de fundo, a
espessura da amostra, etc. Assim, não é razoável atribuir uma faixa estreita de
valores a um dado tipo de técnica, nem compará-las de maneira absoluta. De
qualquer forma, estamos lidando com valores da ordem desde um ppm até
dezenas de ppm.
2. Face às energias da fonte utilizada nestas medidas, o sistema será mais sensível
para elementos na faixa do Fe ao Sr. Se fosse utilizada uma fonte de 55 Fe (6 keV)
seria possível excitar com grande sensibilidade elementos leves na faixa do S ao
V.
Agradecimentos
• a C. T. Kunioshi e ao Dr. A. P. Tschiptschin, do Departamento. de Engenharia
Metalúrgica e de Materiais da Escola Politécnica da USP, pelos ensaios em
MEV-AED.
• a V. F. L. Kozievitch, e Dr. A. C. V. Coelho, pelos ensaios de DRX. no
Departamento de Engenharia Química da Escola Politécnica da USP,
• a F. N. Lopes e à Dra. D. L. A. de Faria, do Laboratório de Espectroscopia
Molecular do Instituto de Química da USP, pelos ensaios de espectroscopia
Raman.
• a Dra. Carmem C. Bueno do IPEN-SP pelo uso do detector de raios-X no
sistema PIXE
• ao LIN / CENA / USP, Piracicaba, SP, pela cessão da fonte de Pu e os
padrões de aço empregados no sistema EDXRF portátil
• à CAPES, ao CNPq e à FAPESP
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