Anais 2º Congresso Latino-Americano de Restauraçao de Metais

Cuantificación análisis EDAX ZAFde placa sobredorada
100%
50%
0%
Wt% At% K-Ratio
CuK 22,84 47,74 0,2691
AgL 0,7 0,86 0,0043
HgM 12,09 8 0,1079
AuM 64,36 43,39 0,5618
La SEM ha estado especialmente dedicada a estudiar la capa de oro y los
elementos inmersos en ella. Siempre se ha conseguido rastrear el Hg como
elemento implicado en la técnica de dorado. Una vez limpias las piezas, se
determinaron con mayor claridad la cohesión de las capas doradas, su
microestructura y el desarrollo de la corrosión subyacente, detectando los elementos
implicados. Incluso es posible prever la evolución de la corrosión si ésta se activa de
manera irremediable.
- Análisis de XRF. Es una técnica NDT complementaria y muy valiosa a la hora de
obtener datos analíticos de la composición superficial de las piezas. La composición
de la película de Au y la presencia conjunta de Hg no han ofrecido dudas con esta
analítica. Hace posible, pues, contrastar sus datos con la SEM. Los estudios
arqueométricos de metales hacen uso habitual de esta técnica con unos buenos
resultados.
- Análisis de Haces de Iones (PIXE).
La creación dentro Parque Científico del CMAM (Centro de Microanálisis de
Materiales) nos ha brindado la posibilidad de hacer uso de unas técnicas NDT
punteras para investigar los problemas compositivos, la tecnología de fabricación del
dorado y caracterizar los problemas de alteración de las piezas que integran la
muestra.
Está equipado con un acelerador de iones tipo tandem cuyo terminal puede
analizar materiales utilizando distintas técnicas de haces de iones (PIXE, RBS,
ERDA, NRA, etc.). En una de las líneas de extensión del acelerador, la línea del
microhaz, el haz se puede focalizar hasta alcanzar dimensiones laterales de algunas
micras y se puede extraer al aire. Esto permite efectuar análisis en objetos que por
sus dimensiones o composición no podrían analizarse en las cámaras
convencionales de análisis donde se precisa vacío, como sucedía con nuestras
piezas doradas de mayores dimensiones. Hasta el momento, en la línea del
microhaz se ha aplicado la técnica PIXE (Particle Induced X-Ray Emisión) con un
haz de protones de 3 MeV.
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