Numerische Berechnung der elektronischen ... - SAM - ETH Zürich
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50 KAPITEL 4. DIE BANDSTRUKTUR IN QW-STRUKTUREN<br />
Man beachte, daß in <strong>der</strong> Literatur [72, 73, 74] auch <strong>der</strong> unkorrekte Nenner a 0<br />
steht.<br />
Damit die Spannung σ xx in z-Richtung verschwindet, muß<br />
und somit<br />
Setzt man ε = ε xx = ε yy erhält man nun<br />
0 = σ xx = C 12 (ε xx + ε yy ) + C 11 ε zz (4.33)<br />
ε zz = − 2C 11<br />
C 12<br />
ε xx (4.34)<br />
)<br />
P ε = −2a v<br />
(1 − C 12<br />
C 11<br />
ε<br />
( )<br />
Q ε = −b 1 + 2 C12<br />
C 11<br />
ε<br />
(4.35)<br />
P ε führt zu einer konstanten Verschiebung aller Bän<strong>der</strong> und wird als hydrostatische<br />
Komponente <strong>der</strong> Verspannung δE hy bezeichnet. Dagegen bewirkt Q ε eine<br />
Aufspaltung zwischen dem Band <strong>der</strong> leichten und <strong>der</strong> schweren Löcher und wird<br />
mit ζ abgekürzt. Das Doppelte von ζ wird als Scherspannung δE sh bezeichnet. Mit<br />
dieser Umbenennung kann man wie<strong>der</strong> P , Q, R und S anstatt P k , Q k , R k und S k<br />
schreiben.<br />
Der Pikus-Bir-Hamiltonian wird damit zu<br />
⎡<br />
P + Q + ζ −S R 0 − √ 2<br />
2 S √ ⎤ 2R<br />
−S ∗ P − Q − ζ 0 R − √ √<br />
2Q 6<br />
2 S<br />
√<br />
√ Ĥ S = −<br />
R ∗ 3<br />
0 P − Q − ζ S<br />
2 S∗ 2Q<br />
0 R<br />
⎢<br />
∗ S ∗ P + Q + ζ − √ 2R ∗ − √ 2<br />
−δE hy<br />
2 S∗<br />
⎣ − √ 2<br />
2 S∗ − √ 2Q ∗ √<br />
6<br />
2 S −√ ⎥<br />
2R P + ∆ 0 ⎦<br />
√ √<br />
2R<br />
∗<br />
6<br />
√<br />
2 S∗ 2Q<br />
∗<br />
− √ 2<br />
2 S 0 P + ∆ (4.36)<br />
Mit <strong>der</strong> gemachten Annahme, daß die Barrierenschicht viel dicker als die QW-<br />
Schicht ist, wird nur die QW-Schicht verspannt und im Substrat ist ζ = 0 und<br />
δE hy = 0. Dies ist <strong>der</strong> Spezialfall für T = 0 in (4.37).<br />
Für Al x Ga 1−x As − GaAs-Heterostrukturen wird wegen <strong>der</strong> höheren Gitterkonstante<br />
(siehe Tabelle 4.2) von Al x Ga 1−x As gegenüber GaAs die QW-Schicht immer<br />
gedehnt (siehe Abbildungen 4.2 und 4.3). Dagegen werden In x Ga 1−x As − InP -<br />
Heterostrukturen für x > 0, 532 gedehnt und für x < 0, 532 zusammengepreßt.<br />
Für die äußere uniaxiale Spannung T entlang <strong>der</strong> z-Achse folgt für den Volumenhalbleiter<br />
wegen σ zz = T und σ xx = σ yy = 0<br />
−C 11<br />
ε xx = ε yy =<br />
C11 2 + C 11C 12 − 2C12<br />
2 T<br />
C 11 + C 12<br />
ε zz =<br />
C11 2 + C 11C 12 − 2C12<br />
2 T (4.37)<br />
Wird eine Heterostruktur entlang <strong>der</strong> Aufwachsrichtung z uniaxial gespannt,<br />
än<strong>der</strong>n sich die angepaßten Gitterkonstanten <strong>der</strong> QW-Schicht und des Substrates<br />
zusammen. Da die Gitterkonstante des Substrates nur durch die äußere Spannung<br />
verän<strong>der</strong>t wird, gilt für das Substrat weiterhin (4.37). Für die QW- Schicht ist nun