Diplomarbeit - Institut für Halbleiter
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1.2. GESCHICHTE DER TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOPIE 7<br />
sich besonders durch Produktvielfalt auszeichnet.<br />
1.2.4 Spätere Entwicklungen<br />
Die 40er und 50er-Jahre des vorigen Jahrhunderts zeichneten sich in Europa wie auch in<br />
Übersee durch eine rasante Entwicklung und Verbesserung in Hinblick auf Instrument und<br />
Technik aus. Eine Stabilisierung der Spannungsversorgung und der Linsenströme sowie bes-<br />
sere Elektronenquellen erlaubten eine höhere Auflösung und höhere maximale Vergrößerung<br />
(Abb. 1.5 [5]. Auch die Probenpräparationstechnik - eine essentielle Voraussetzung zur Erlan-<br />
gung qualitativ hochwertiger Bilder - machte große Fortschritte. In den 60er-Jahren ermöglichten<br />
Vergrößerung<br />
[logarithmische Skala]<br />
1000000<br />
100000<br />
10000<br />
1000<br />
100<br />
10<br />
1933<br />
1938<br />
1931: 14,4 x<br />
1957<br />
1954: 100.000 x<br />
1995: 1,5 Mio x<br />
1<br />
1920 1930 1940 1950 1960 1970 1980 1990 2000<br />
Quelle: Nobel Lecture Ruska, 1986, The Nobel Foundation;<br />
http://www.nobel.se/physics/laureates/1986/ruska-autobio.html<br />
maximale Vergrößerung der<br />
besten Elektronenmikroskope<br />
von 1931 bis 1995<br />
Abbildung 1.5: Maximale erreichte Vergrößerung von Elektronenmikroskopen von<br />
1931 bis 1995. [6]<br />
Source: max magnification.jpg,max magnification.eps<br />
die besten käuflichen Transmissionselektronenmikroskope eine Auflösung von ungefähr 0,3 nm<br />
(3 ˚A). Ein neuer Ansatz in der Materialforschung kam ebenfalls in den 60er-Jahren auf, die Ultrahochspannungselektronenmikroskopie.<br />
Mit Beschleunigungsspannungen von bis zu 3 Mio.<br />
Volt (3 MV) (Abb. 1.6B) [5] versuchte man durch dickere Proben bzw. Proben aus schwereren<br />
Elementen zu dringen.<br />
Die 70er Jahre brachten neben einer allgemeinen Weiterentwicklung der Elektronenmikroskopie<br />
eine Steigerung der Helligkeit der Abbildungen durch Verwendung neuer Materialien in<br />
Jahr