Diplomarbeit - Institut für Halbleiter
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3.6. FUNKTIONSWEISE EINES TEM 51<br />
Abbildung 3.16: Verwendung des Ablenkspulenpaars zur (A) Verschiebung des<br />
Elektronenstrahls und (B) Verkippung des Elektronenstrahls. [4]<br />
Source: deflector coils.jpg,deflector coils.eps<br />
sich sogenannter Ablenkspulen (engl.: deflector coils) welche immer paarweise angeordnet<br />
sind (Abb. 3.16).<br />
Die beiden Ablenkspulen werden so angesteuert, dass sich entweder eine Positionsver-<br />
schiebung des Elektronenstrahls ergibt, wobei seine Richtung unverändert bleibt oder eine<br />
Verkippung des Elektronenstrahl oder eine Mischung aus beiden Fällen. Solche Ablenkspu-<br />
lenpaare befinden sich vor dem Kondensorlinsensystem und vor dem Objektivlinsensystem<br />
(siehe Abb. 3.14). Ein weiterer häufiger Fehler im Kondensorsystem ist Astigmatismus. Die-<br />
ser entsteht, wenn die Kondensorblende entweder nicht symmetrisch um die optische Achse<br />
positioniert oder verschmutzt ist. Zum Ausgleich des Astigmatismus bedient man sich der<br />
Stigmator Spule (engl.: condensor lens stigmator coil) (siehe Abb. 3.14), welche sich direkt<br />
hinter der Kondensorblende befindet.<br />
3.6.3 Beugungsbild und Transmissionsbild<br />
Die Objektivlinse bzw. das Objektivlinsensystem führt parallel aus der Rückseite der Probe<br />
austretende Elektronenstrahlen in der hinteren Fokusebene zu einem Beugungsbild zusam-<br />
men. Das Transmissionsbild der Probe entsteht in der Bildebene des Objektivlinsensystems<br />
(vgl. Abb. 3.6). Anhand dieses Diagramms und Abbildung 3.17 lassen sich die beiden Ar-<br />
beitsmodi eines TEM verstehen.<br />
1. Beugungsbild der Probe (engl.: diffraction mode)<br />
2. Transmissionsbild der Probe (engl.: magnification mode)