05.12.2012 Aufrufe

Diplomarbeit - Institut für Halbleiter

Diplomarbeit - Institut für Halbleiter

Diplomarbeit - Institut für Halbleiter

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

42 KAPITEL 3. DAS TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP<br />

den den Elektronenstrahl begrenzenden Blenden. Die Strahlintensität ist deshalb nicht<br />

im Fokus konzentriert, sondern setzt sich aus einem zentralen Haupt- und ringförmig<br />

darum angeordneten Nebenmaxima/-minima zusammen. Der Durchmesser des ersten<br />

Nebenminima ist gegeben durch:<br />

dd = 1.22 · λ<br />

α<br />

(3.9)<br />

Um Beugungsfehler zu minimieren sollte der Winkel α so groß wie möglich gewählt<br />

werden, was sich jedoch negativ auf die chromatische Aberration (Glg. 3.8) und insbe-<br />

sondere auf die sphärische Aberration (Glg. 3.7 auswirken würde.<br />

Durch Verwendung aufeinander abgestimmter Linsensysteme statt Einzellinsen wird ver-<br />

sucht, die Abbildungsfehler so gering wie möglich zu halten. Trotzdem ergibt sich eine be-<br />

trächtliche Einschränkung der tatsächlich zu erzielenden Auflösung gegenüber der theoreti-<br />

schen Auflösung (vgl. Glg. 2.4).<br />

Das Auflösungsvermögen ist insbesondere aufgrund der α 3 -Abhängigkeit von dS (Glg. 3.7<br />

durch CS begrenzt. Als Abschätzung der praktischen Grenze des Auflösungsvermögen kann<br />

folgende Formel (Glg. 3.10) angegeben werden [4]:<br />

rmin ≈ 0.91 · (CSλ 3 ) 1<br />

4 ≈ 3, 2 ˚A mit CS ≈ 1, 0 mm und λ ≈ 2, 5 · 10 −12 m (3.10)<br />

Als praktisch erreichbare Auflösung <strong>für</strong> das JEM2011 FasTEM ergibt sich <strong>für</strong> rmin mit CS ≈<br />

1, 0 mm und λ ≈ 2, 5 · 10 −12 m ein Auflösungsvermögen von ca 3, 2 · 10 −10 m. Dieser Wert liegt<br />

um 2 Größenordnungen über dem der theoretischen Auflösung von ≈ 1, 5 × 10−12 (Kap. 2.1)<br />

Das JEM2011 FasTEM ist aufgrund von fehlerausgleichenden Korrekturmöglichkeiten mit<br />

einer Auflösung von 2,3 ˚A spezifiziert [14].<br />

3.4 Abbildung des Elektronenstrahls<br />

Aufgrund der Bauweise des TEM ist es nicht möglich, den Elektronenstrahl direkt zu sehen.<br />

Deshalb müssen Hilfsmittel verwendet werden, um den Elektronenstrahl nach Durchgang<br />

durch die Probe und Nachvergrößerung <strong>für</strong> den Betrachter sichtbar zu machen.<br />

3.4.1 Fluoreszenzschirm<br />

Ein Fluoreszenzschirm ist eine mit ZnS (Zinksulfid) beschichtete Platte. Trifft ein Elektronenstrahl<br />

auf das ZnS emittiert dieses in Verbindung mit speziellen im in der ZnS-Schicht

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!