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Identification des mécanismes de fissuration dans un alliage d ...

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3.3 Etu<strong>de</strong> <strong>de</strong> la propagation <strong>de</strong> fissures <strong>de</strong> fatigue - Influence <strong>de</strong> la<br />

microstructure 125<br />

a<br />

b<br />

trou<br />

direction <strong>de</strong> propagation<br />

c<br />

D<br />

C<br />

B<br />

A<br />

Fig. 3.52: Cartographie EBSD d’<strong>un</strong>e zone fissurée (essai 3); a) sur cette<br />

image, sont superposés les angles d’euler en représentation [rgb] et les joints<br />

<strong>de</strong> grains calculés par Channel © pour <strong>un</strong>e désorientation >10˚, b) micrographie<br />

optique <strong>de</strong> la fissure, c) superposition après ajustement <strong><strong>de</strong>s</strong> <strong>de</strong>ux<br />

images.<br />

Tous ces paramètres peuvent être calculés à partir <strong>de</strong> l’orientation <strong><strong>de</strong>s</strong> différents<br />

grains obtenue par les mesures EBSD. Il s’git ensuite <strong>de</strong> comparr les directions<br />

obtenues par le calcul avec les traces <strong><strong>de</strong>s</strong> plans <strong>de</strong> <strong>fissuration</strong> et <strong><strong>de</strong>s</strong> ban<strong><strong>de</strong>s</strong> <strong>de</strong><br />

glissement effectivement observés expérimentalement à la surface <strong><strong>de</strong>s</strong> échantillons.<br />

Une étape importante consiste à replacer correctement la cartographie<br />

EBSD par rapport à l’image en microscopie optique à partir <strong>de</strong> laquelle les<br />

angles expérimentaux sont mesurés. En effet, du fait du tilt <strong>de</strong> l’éprouvette<br />

<strong>dans</strong> le MEB, la trajectoire hélicoïdale <strong><strong>de</strong>s</strong> électrons doit être modifiée pour<br />

effectivement parcourir <strong>un</strong>e zone rectangulaire. La gran<strong>de</strong> majorité <strong><strong>de</strong>s</strong> mesures<br />

ayant été réalisée sur le JEOL où ce réglage est manuel et approximatif, il<br />

convient <strong>de</strong> corriger d’éventuels écarts. Pour cela, il suffit d’enregister <strong>un</strong>e image<br />

en électrons secondaires après la cartographie, et avec <strong>un</strong> tilt nul. Du fait du

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