Identification des mécanismes de fissuration dans un alliage d ...
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2.1 Métho<strong><strong>de</strong>s</strong> <strong>de</strong> caractérisation 49<br />
l’acier par exemple). Ensuite, il fallait pouvoir in<strong>de</strong>xer <strong>un</strong> matériau endommagé<br />
(dislocations et présence <strong>de</strong> fissures). Ceci a nécessité l’allongement du temps<br />
d’exposition pour atteindre <strong>un</strong> pourcentage d’in<strong>de</strong>xation acceptable. Compte<br />
tenu <strong>de</strong> la gran<strong>de</strong> étendue <strong><strong>de</strong>s</strong> surfaces à analyser, il y avait <strong>un</strong> compromis à<br />
faire. On peut difficilement dépasser <strong>un</strong> temps maximum <strong>de</strong> quelques heures sur<br />
ce type <strong>de</strong> microscope pour <strong>un</strong>e cartographie (temps maximum <strong>dans</strong> le cadre <strong>de</strong><br />
ce travail ≃ 10h). En effet, l’intensité d’émission fluctue au cours <strong>de</strong> la vie du<br />
filament (typiquement <strong>un</strong>e centaine d’heures) et l’in<strong>de</strong>xation dépend <strong>de</strong> façon<br />
critique <strong>de</strong> l’intensité moyenne reçue sur le détecteur.<br />
Notons qu’il existe <strong>un</strong>e technique intéressante pour réaliser l’acquisition <strong>de</strong> larges<br />
zones tout en gradant <strong>un</strong>e bonne <strong><strong>de</strong>s</strong>cription <strong>de</strong> la géométrie <strong><strong>de</strong>s</strong> joints <strong>de</strong> grains.<br />
C’est le smart sampling qui consiste à ne pas acquérir tous les points <strong>de</strong> la<br />
zone mais <strong>un</strong>iquement les points proches <strong><strong>de</strong>s</strong> joints <strong>de</strong> grains par <strong>un</strong> algorithme<br />
optimisé (voir [75] pour tous les détails). Cette technique n’a toutefois pas été<br />
utilisée, principalement par <strong>un</strong> manque <strong>de</strong> temps pour la mettre en place. Ceci<br />
montre <strong>un</strong> <strong><strong>de</strong>s</strong> grands intérêts du MEB FEG pour lequel l’acquisition est environ<br />
40 fois plus rapi<strong>de</strong> (cf. paramètres <strong>dans</strong> le tableau 2.1). Dans ce cas, on peut au<br />
choix, acquérir <strong><strong>de</strong>s</strong> zones plus gran<strong><strong>de</strong>s</strong> ou travailler avec <strong>un</strong>e résolution accrue.<br />
La gran<strong>de</strong> majorité <strong><strong>de</strong>s</strong> mesures a été pratiqué avec le MEB du GEMPPM et<br />
seules <strong>de</strong>ux fissures (essai <strong>dans</strong> le sens T, cf. §3.3.3) ont été caractérisées sur le<br />
MEB FEG. La détermination <strong><strong>de</strong>s</strong> paramètres d’acquisition n’est donc présentée<br />
que <strong>dans</strong> le premier cas.<br />
Le temps d’exposition d’<strong>un</strong>e figure (FRINT pour frame integration) est <strong>de</strong> 0,12<br />
secon<strong>de</strong> et le nombre <strong>de</strong> figures à sommer (FRM pour frames) a été établi à 4 (voir<br />
[76] pour plus <strong>de</strong> détails). La figure 2.3 montre <strong>de</strong>ux cartographies <strong>dans</strong> la même<br />
zone avec ces réglages mais avec <strong><strong>de</strong>s</strong> pas d’acquisition différents.<br />
À l’examen <strong>de</strong> cette figure, il apparaît clairement qu’avec <strong>un</strong> pas <strong>de</strong> 15 µm la<br />
<strong><strong>de</strong>s</strong>cription <strong>de</strong> la géométrie <strong><strong>de</strong>s</strong> joins <strong>de</strong> grains est plus qu’approximative alors<br />
qu’elle est excellente avec <strong>un</strong> pas <strong>de</strong> 4 µm. On retiendra donc <strong>un</strong>e valeur intermédiaire<br />
<strong>de</strong> 10 µm. Le temps total peut être estimé par la formule 2.2. Pour <strong>un</strong>e<br />
zone <strong>de</strong> 1mm×0, 4mm on prévoit donc <strong>un</strong> temps <strong>de</strong> balayage d’environ 2 heures.<br />
Finalement les paramètres retenus ont été regroupés <strong>dans</strong> le tableau 2.1.<br />
Temps total ≃ 2 ×FRINT ×FRM ×<br />
surface <strong>de</strong> la zone<br />
(pas d’acquisition) 2 (2.2)<br />
2.1.3 Micro-tomographie X<br />
Au cours du chapitre précé<strong>de</strong>nt les motivations concernant l’utilisation <strong>de</strong> la<br />
micro-tomographie ont été clairement énoncées. Le caractère tridimensionnel <strong><strong>de</strong>s</strong><br />
fissures courtes, les expertises <strong><strong>de</strong>s</strong>tructives et limitées <strong><strong>de</strong>s</strong> fissures <strong>de</strong> fretting sont