CiP - TEQ

Analyse attributiver/diskreter Prozess- und Produktmerkmale
mit qs-STAT ® /destra ® - ADP
Seminarnummer 014-STM
Fachliche Leitung
Dipl.-Ing. Morteza Farmani
Zielgruppe
Mitarbeiter aus den Bereichen Qualitätswesen, Qualitätsplanung,
Fertigung, Entwicklung und Konstruktion.
Voraussetzungen
Zur Teilnahme an diesem Seminar sind Grundkenntnisse
in den statistischen Methoden erforderlich, wie sie z. B. in
unseren Seminaren "Einführung in die technische Statistik -
ETS" (011-STM S. 41) oder "Statistische Verfahren - Teil 1"
(020-STM S. 42) vermittelt werden.
Zum Thema
Vielfach ist es notwendig, aus Zeit- oder Kostengründen
Prozess- und Produktmerkmale nicht zu messen, sondern
mit Hilfe von Lehren auf i.O. / n.i.O. zu prüfen. Weitere
Merkmale lassen sich grundsätzlich nur durch Sichtprüfungen
beurteilen. Unmengen dieser Daten werden täglich erfasst,
im Wareneingang, bei der Endprüfung und in der Fertigung.
Aus diesen Beobachtungsdaten entstehen meistens Datenfriedhöfe!
Vielfach ist die Beurteilung der Daten genau so subjektiv wie
die Erfassung der Daten. Dennoch gibt es eindeutige Kriterien,
an denen festgemacht werden kann, ob ein Anstieg von 0,9%
auf 1,3% nun signifikant und damit bedeutsam oder eher als
zufällig einzuschätzen ist. Umgekehrt ist es wichtig zu wissen,
wie groß Stichproben zu wählen sind, um aussagekräftige
Ergebnisse zu erhalten.
Auch diskrete Prozess- und Produktmerkmale lassen
sich mit SPC-Methoden überwachen und im Regelkreis
steuern. Qualitätsregelkarten geben sofort Auskunft, ob
Handlungsbedarf besteht oder nicht. Selbst Fähigkeitsindizes
lassen sich für diskrete Merkmale und interne Benchmarks
berechnen. Noch wichtiger sind aber Analysen von
Fehlersammelkarten, Pareto- oder ABC-Analysen nach der
80/20-Regel und die Abschätzung von Vertrauensbereichen
und Zufallsstreubereichen.
Seminarziel
Zielsetzung des Seminars ist die
● Analyse diskreter Prozess- und Produktmerkmale mit Hilfe
grafischer Darstellungen
● Interpretation der sich daraus ergebenden statisti schen
Kennwerte und
● die Auswahl geeigneter Qualitätsregelkarten.
Inhaltsübersicht
®
● Grafische Darstellungen mit qs-STAT
– Werteverläufe, Balkendiagramme, Paretodiagramme
● Häufigkeits- und Wahrscheinlichkeitsmodelle
– Binomialverteilung (Zählung fehlerhafter Einheiten)
– Poissonverteilung (Zählung der Fehler pro Einheit)
Inhaltsübersicht - Fortsetzung
● Berechnung und Beurteilung von statistischen Kennwerten
– Einzel- und Summenwahrscheinlichkeiten
– Mittlere Fehleranteile
– Überschreitungsanteile
● Beurteilung der Daten mit Hilfe
– der Six Sigma-Methoden DPU, DPO und DPMO und
– Überlegungen zur Berechnung von Fähigkeiten
● Bedeutung, Handhabung und Analyse von
Qualitätsregelkarten
– x-, p-, np-Karten für binomialverteilte Merkmale
– x-, c-, u-Karten für poissonverteilte Merkmale
● Bedeutung, Handhabung und Analyse von Fehlersammel
karten
● Berechnung und Interpretation von Vertrauens- und
Zufalls streubereichen
Seminardauer
1 Tag, von 9.00 Uhr bis 17.00 Uhr
Termine
Weinheim: 08.04.2011
Berlin: 26.08.2011
Weinheim: 28.10.2011
In-House: nach Vereinbarung
Leistungsumfang und Teilnahmegebühr
Einschließlich ausführlicher Seminarunterlagen, gastronomischer
Verpflegung und Teilnahmebestätigung 480,- EUR
zzgl. MwSt.
Das Training erfolgt mit PC bzw. Laptop, der jedem Teilnehmer für das
Training zur Verfügung gestellt wird. Es kann auch ein eigener Laptop
mitgebracht werden. Jeder Teilnehmer erhält eine Schulungsversion
der Software qs-STAT ® .
Für ein In-House-Training unterbreiten wir Ihnen gern ein
Angebot.
Ergänzende / Weiterführende Themen:
005-STM S. 54, 013-STM S. 47
49
Unsere Angebote -
Ihr Nutzen
Inhalts- und Terminübersicht
2011
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