CiP - TEQ

Prüfprozesseignung und Messunsicherheit
nach VDA Band 5 - PPE
Seminarnummer 017-STM
Fachliche Leitung
Dipl.-Ing. Stephan Conrad
Zielgruppe
Fachpersonal aus Fertigung und Qualitätswesen, Messtechnik/Messraum,
Entwicklung, Konstruktion sowie Messsystem
hersteller und Auditoren. Auch Mitarbeiter aus Einkauf/
Qualität, Marketing und technischem Vertrieb erhalten das
notwendige Hintergrundwissen, um Fähigkeitsanalysen
sinnvoll interpretieren und bewerten zu können.
Voraussetzungen
Zur Teilnahme an diesem Seminar sind Grundkenntnisse
in den statistischen Methoden und der Messsystemanalyse
erforderlich, wie sie z. B. in unseren Seminaren "ETS" (011-
STM S. 41) und "AFM" (016-STM S. 79) vermittelt werden.
Zum Thema
Die 2. Auflage des VDA Bandes 5 "Prüfprozesseignung" ist
2010 neu erscheinen. Ziel des Bandes ist, die in den
bestehenden Normen und Richtlinien enthaltenen Forderungen
und Verfahren zu einem einheitlichen und praxisgerechten
Modell zur Ermittlung und Berücksichtigung der Erweiterten
Messunsicherheit zusammenzufassen. Viele Unklarheiten
und offene Punkte der ersten Auflage sind nun behoben,
neue Methoden definiert und klare Strukturen vorgegeben.
Die bekannten Methoden der Messsystemanalyse sind nun
explizit integriert und können eine Basis für vollständige
Messunsicherheitsstudien darstellen. Aber auch Techniken
der statistischen Versuchsmethoden (Design of Experiments,
DoE) werden zur Berechnung herangezogen.
Der Nachweis, dass die verwendeten bzw. einge setz ten
Messgeräte und Messprozesse für ihre Aufgabenstellung
geeignet sind, ist u. a. Normforderung im Rahmen der DIN
EN ISO 9001, DIN EN ISO 10012 und ISO/TS 16949. Die
2. Auflage des VDA Band 5 ist konform zur neu erschienenen
ISO 22514-7 "Capability of Measurement Processes".
Die Automobilindustrie betrachtet den VDA Band 5 als
Referenzhandbuch zur ISO/TS 16949, ebenso wie das AIAG
Referenzhandbuch MSA.
Seminarziel
Die Teilnehmer erhalten einen Überblick zu den Anfor derungen
und Denkweisen des VDA Band 5 (2. Auflage), ins besondere
im Vergleich zu herkömmlichen Messsystemanalysen oder
Mess unsicher heits studien nach GUM. Sie werden befähigt,
eigen ständig Prüfprozesse zu analysieren, Messsystem analysen
durchzuführen, die Messunsicherheit abzu schätzen, Ursachen
für Messabweichungen zu erkennen und damit Prüfprozesse
zu optimieren. Anhand verallgemeinerungsfähiger Beispiele
werden die theoretischen Zusammenhänge vertieft, Praxisbeispiele
verdeutlichen die Arbeitsschritte. Um die Theorie in
die Praxis zu überführen, werden in Workshops an einfachen
Messsystemen die Messunsicherheiten bestimmt und
Eignungsnachweise durchgeführt.
Inhaltsübersicht
1. Tag
● Zielsetzung des VDA Band 5
● Übersicht zu Forderungen der Normen
● Definitionen und Begriffe
● Übersicht zu den typischen Verfahren der
Messsystemanalyse
Inhaltsübersicht - Fortsetzung
● Methoden zur Bestimmung von
Standardmessunsicherheiten (Methode A/B)
● Standardisierte Vorgehensweise zur Bestimmung der
"Kombinierten Standardunsicherheit"
● Erweiterte Messunsicherheit und Eignung des Messsystems
● Erweiterte Messunsicherheit und Eignung des Messprozesses
● Eignungskennwerte und kleinste prüfbare Toleranz
● Fallbeispiele
2. Tag
● Berücksichtigung von Messunsicherheiten an den
Toleranzgrenzen
● Verfahren zur Bestimmung von Unsicherheits kompo nenten
im Vergleich zur Messsystemfähigkeitsanalyse (MSA)
● Praxis-Workshop
● Diskussion der Ergebnisse
● Laufende Überprüfung der Messprozesseignung
(Stabilitätsprüfung)
● Typische Messprozessmodelle und die praxisgerechte
Ermittlung von typischen Standardunsicherheiten
● Eignungsnachweis bei attributiven Prüfprozessen
● Weitere Fallbeispiele
Seminardauer
2 Tage, jeweils von 9.00 Uhr bis 17.00 Uhr
Termine
Berlin: 02./03.03.2011
Weinheim: 20./21.07.2011
Chemnitz: 27./28.09.2011
Weinheim: 16./17.11.2011
In-House: nach Vereinbarung
Leistungsumfang und Teilnahmegebühr
Einschließlich ausführlicher Seminarunterlagen, gastronomischer
Verpflegung und Teilnahmebestätigung 890,- EUR
zzgl. MwSt.
Für ein In-House-Training unterbreiten wir Ihnen gern ein
Angebot.
Ergänzende / Weiterführende Themen:
018-STM S. 82, 019-STM S. 83
81
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