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CiP - TEQ

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Inhalts- und Terminübersicht<br />

2011<br />

Six Sigma /<br />

Lean Six Sigma / DFSS<br />

Statistische<br />

Methoden<br />

Fertigungsmesstechnik<br />

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Anmeldung / Infos<br />

"Do-it!" – Messsystemanalyse praxisnah in der Lernfabrik<br />

Seminarnummer 033-STM<br />

Fachliche Leitung<br />

Dipl.-Ing. Morteza Farmani<br />

Zielgruppe<br />

Mitarbeiter aus den Bereichen Messtechnik/Messraum,<br />

Qualitätswesen, Fertigung, Entwicklung, Konstruktion<br />

sowie Mess systemhersteller und Auditoren für MSA, die<br />

Qualitätsabnahmen von Messsystemen im Rahmen der<br />

Messprozessfreigabe bewerten. Auch Mitarbeiter aus Einkauf/<br />

Qualität, Marketing und technischem Vertrieb erhalten das<br />

notwendige Hintergrundwissen, um Fähigkeitsanalysen<br />

sinnvoll interpretieren und bewerten zu können.<br />

Voraussetzung<br />

Zur Teilnahme an diesem Seminar sind Grundkenntnisse<br />

in den statistischen Methoden erforderlich, wie sie z. B. in<br />

unserem Seminar "Einführung in die technische Statistik - ETS"<br />

(011-STM S. 41) vermittelt werden.<br />

Zum Thema<br />

Grundlegende Voraussetzung für eine ordnungsgemäße<br />

Kurzzeit- und Prozessanalyse ist die Fähigkeit von Messeinrichtungen.<br />

Von verschiedenen Firmen wurden mehrere<br />

Verfahren entwickelt, deren Einhaltung immer mehr zum<br />

Bestandteil von Liefervereinbarungen wird. Betrachtet und<br />

miteinander verglichen werden die Verfahren unterschiedlicher<br />

Firmen und Interessenverbände z. B. AIAG MSA 4 th Edition<br />

(ehem. QS-9000), "Leitfaden aus der Automobilindustrie".<br />

Allen Verfahren liegen zunächst ähnliche Definitionen<br />

zugrunde: Genauigkeit, systematische Messabweichungen,<br />

Wiederholpräzision, Vergleichspräzision, Stabilität, Lineari tät.<br />

Seminarziel<br />

Ziel des Seminars ist, die Teilnehmer in einer konkreten<br />

Praxisanwendung mit den statistischen Grundlagen und der<br />

Vorgehensweise bei Messsystemanalysen vertraut zu machen.<br />

Die Teilnehmer sollen befähigt werden, selbstständig<br />

Eignungsnachweise durchzuführen, zu organisieren und zu<br />

bewerten. Dazu werden sie im "Do-it!"-Praxisteil des Seminars<br />

in der Lernfabrik des <strong>CiP</strong> an der TU Darmstadt selbstständig<br />

typische Studien der MSA durchführen, Kennzahlen<br />

interpretieren und Grafiken bewerten. Kurze Einblicke in die<br />

Anwendung der Software solara ® , den Vergleich verschiedener<br />

Auswertestrategien und alternative Sonderverfahren erweitern<br />

das Gesamtbild.<br />

80<br />

Inhaltsübersicht<br />

1. Tag<br />

● Motivation - Begriffe - Normforderungen<br />

● Abgrenzung zu Prüfmittelüberwachung und<br />

Messunsicherheit<br />

● Übersicht zur Messsystemanalyse<br />

● Auflösung der Anzeige<br />

● Verfahren 1<br />

● Grenzen und Alternativen<br />

● "Do-it!" - Verfahren 1<br />

● Analyse der Ergebnisse<br />

● Alternative Bewertung nach MSA etc.<br />

● Vorbereitung auf Verfahren 2<br />

2. Tag<br />

● Verfahren 2<br />

● "Do-it!" - Verfahren 2<br />

● Analyse der Daten<br />

● Alternative Bewertungen<br />

● Verfahren 3<br />

● Verfahren Linearität<br />

● Verfahren Stabilität<br />

● Regelkarte entwickeln<br />

● "Do-it!" - Stabilität<br />

● Übergang zur Messunsicherheit nach VDA Band 5<br />

(2. Auflage)<br />

Seminardauer<br />

2 Tage, jeweils von 9.00 Uhr bis 17.00 Uhr<br />

Termine<br />

Darmstadt: 24./25.05.2011<br />

weitere Termine auf Anfrage<br />

Leistungsumfang und Teilnahmegebühr<br />

Einschließlich ausführlicher Seminarunterlagen, gastronomischer<br />

Verpflegung und Teilnahmebestätigung 920,- EUR<br />

zzgl. MwSt.

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