CiP - TEQ
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Unsere Angebote -<br />
Ihr Nutzen<br />
Inhalts- und Terminübersicht<br />
2011<br />
Six Sigma /<br />
Lean Six Sigma / DFSS<br />
Statistische<br />
Methoden<br />
Fertigungsmesstechnik<br />
Lean<br />
Management<br />
Qualitätsmanagement /<br />
Qualitätstechniken<br />
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Umweltmanagement<br />
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Berater<br />
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Softwarebestellung /<br />
Anmeldung / Infos<br />
"Do-it!" – Messsystemanalyse praxisnah in der Lernfabrik<br />
Seminarnummer 033-STM<br />
Fachliche Leitung<br />
Dipl.-Ing. Morteza Farmani<br />
Zielgruppe<br />
Mitarbeiter aus den Bereichen Messtechnik/Messraum,<br />
Qualitätswesen, Fertigung, Entwicklung, Konstruktion<br />
sowie Mess systemhersteller und Auditoren für MSA, die<br />
Qualitätsabnahmen von Messsystemen im Rahmen der<br />
Messprozessfreigabe bewerten. Auch Mitarbeiter aus Einkauf/<br />
Qualität, Marketing und technischem Vertrieb erhalten das<br />
notwendige Hintergrundwissen, um Fähigkeitsanalysen<br />
sinnvoll interpretieren und bewerten zu können.<br />
Voraussetzung<br />
Zur Teilnahme an diesem Seminar sind Grundkenntnisse<br />
in den statistischen Methoden erforderlich, wie sie z. B. in<br />
unserem Seminar "Einführung in die technische Statistik - ETS"<br />
(011-STM S. 41) vermittelt werden.<br />
Zum Thema<br />
Grundlegende Voraussetzung für eine ordnungsgemäße<br />
Kurzzeit- und Prozessanalyse ist die Fähigkeit von Messeinrichtungen.<br />
Von verschiedenen Firmen wurden mehrere<br />
Verfahren entwickelt, deren Einhaltung immer mehr zum<br />
Bestandteil von Liefervereinbarungen wird. Betrachtet und<br />
miteinander verglichen werden die Verfahren unterschiedlicher<br />
Firmen und Interessenverbände z. B. AIAG MSA 4 th Edition<br />
(ehem. QS-9000), "Leitfaden aus der Automobilindustrie".<br />
Allen Verfahren liegen zunächst ähnliche Definitionen<br />
zugrunde: Genauigkeit, systematische Messabweichungen,<br />
Wiederholpräzision, Vergleichspräzision, Stabilität, Lineari tät.<br />
Seminarziel<br />
Ziel des Seminars ist, die Teilnehmer in einer konkreten<br />
Praxisanwendung mit den statistischen Grundlagen und der<br />
Vorgehensweise bei Messsystemanalysen vertraut zu machen.<br />
Die Teilnehmer sollen befähigt werden, selbstständig<br />
Eignungsnachweise durchzuführen, zu organisieren und zu<br />
bewerten. Dazu werden sie im "Do-it!"-Praxisteil des Seminars<br />
in der Lernfabrik des <strong>CiP</strong> an der TU Darmstadt selbstständig<br />
typische Studien der MSA durchführen, Kennzahlen<br />
interpretieren und Grafiken bewerten. Kurze Einblicke in die<br />
Anwendung der Software solara ® , den Vergleich verschiedener<br />
Auswertestrategien und alternative Sonderverfahren erweitern<br />
das Gesamtbild.<br />
80<br />
Inhaltsübersicht<br />
1. Tag<br />
● Motivation - Begriffe - Normforderungen<br />
● Abgrenzung zu Prüfmittelüberwachung und<br />
Messunsicherheit<br />
● Übersicht zur Messsystemanalyse<br />
● Auflösung der Anzeige<br />
● Verfahren 1<br />
● Grenzen und Alternativen<br />
● "Do-it!" - Verfahren 1<br />
● Analyse der Ergebnisse<br />
● Alternative Bewertung nach MSA etc.<br />
● Vorbereitung auf Verfahren 2<br />
2. Tag<br />
● Verfahren 2<br />
● "Do-it!" - Verfahren 2<br />
● Analyse der Daten<br />
● Alternative Bewertungen<br />
● Verfahren 3<br />
● Verfahren Linearität<br />
● Verfahren Stabilität<br />
● Regelkarte entwickeln<br />
● "Do-it!" - Stabilität<br />
● Übergang zur Messunsicherheit nach VDA Band 5<br />
(2. Auflage)<br />
Seminardauer<br />
2 Tage, jeweils von 9.00 Uhr bis 17.00 Uhr<br />
Termine<br />
Darmstadt: 24./25.05.2011<br />
weitere Termine auf Anfrage<br />
Leistungsumfang und Teilnahmegebühr<br />
Einschließlich ausführlicher Seminarunterlagen, gastronomischer<br />
Verpflegung und Teilnahmebestätigung 920,- EUR<br />
zzgl. MwSt.