30.11.2012 Aufrufe

CiP - TEQ

CiP - TEQ

CiP - TEQ

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

Sonderfälle bei der Beurteilung von Messsystemen - SOM<br />

Seminarnummer 019-STM<br />

Fachliche Leitung<br />

Dipl.-Ing. Stephan Conrad<br />

Zielgruppe<br />

Mitarbeiter aus den Bereichen Messtechnik/Messraum,<br />

Qualitätswesen, Fertigung, Entwicklung und Konstruktion<br />

sowie Messsystemhersteller, Auditoren für MSA.<br />

Voraussetzungen<br />

Zur Teilnahme an diesem Seminar sind Grundkenntnisse<br />

in den statistischen Methoden und der Messsystemanalyse<br />

erforderlich, wie sie z. B. in unseren Seminaren "Einführung in<br />

die technische Statistik - ETS" (011-STM S. 41) und "Analyse<br />

und Fähigkeitsnachweis von Messsystemen - AFM" (016-STM<br />

S. 79) vermittelt werden.<br />

Zum Thema<br />

Wie kann man die Eignung von Prüfmitteln nachweisen,<br />

bei denen die herkömmlichen Verfahren der MSA nicht<br />

anwendbar sind?<br />

Lernen Sie in diesem Seminar alternative Methoden und<br />

Verfahren aus der Praxis kennen. Typische Fragen in diesen<br />

Fällen sind:<br />

● Normal oder Referenz ist nicht vorhanden,<br />

● keine Wiederholungsmessung möglich,<br />

● mehrere korrelierende Merkmale,<br />

● mehrdimensionale Merkmale,<br />

● ...<br />

Für einige sogenannte Sonderfälle wurden Vorschläge<br />

ausgearbeitet, wie diese Messverfahren zu beurteilen sind.<br />

Dabei wird versucht, sich soweit wie möglich am Standard zu<br />

orientieren. Dies gelingt oftmals, wenn bei der Untersuchung<br />

gewisse Einschränkungen vorgenommen bzw. die Grenzwerte<br />

in begründeten Fällen flexibler gehandhabt werden.<br />

Seminarziel<br />

In diesem Seminar werden Vorschläge zur Beurteilung von<br />

Messverfahren diskutiert, die nicht oder nur bedingt mit den<br />

bekannten Verfahren des Fähigkeitsnachweises abge nommen<br />

werden können. Es werden Ihnen alternative Betrachtungsweisen<br />

vorgestellt und sie erhalten Ratschläge, wie Sie<br />

praktikabel und effizient die Beurteilung Ihrer Messverfahren<br />

vornehmen. Die Themen werden anhand von Fallbeispielen<br />

vertieft und wir zeigen Ihnen, wie Sie selbst bei komplexen<br />

Messverfahren eine Beurteilung durchführen können.<br />

Inhaltsübersicht<br />

1. Tag<br />

● Bedeutung der Prüfmittel<br />

– Anforderungen der Normen an Prüf- und Messmittel<br />

und an die Prüfmittelüberwachung<br />

– Genormte Annahmetests und Fähigkeitsanalysen<br />

– Messaufgabenbeschreibung Lastenheft (Beispiele)<br />

– Begriffsdefinitionen und Anmerkungen<br />

● Vorgehensweise "Nicht fähige Messsysteme"<br />

– Definition Prozess und Prozess-Modell<br />

– Messprozess, Messsystem<br />

– Einflussgrößen auf das Messergebnis<br />

● Standard-Prüfmittel<br />

Inhaltsübersicht - Fortsetzung<br />

● Eignung attributiver Prüfmittel<br />

– Grundbegriffe: Prüfen - Messen - Lehren<br />

– Beispiele für Lehren (-arten) und Gebrauch der Lehren<br />

– Voraussetzungen für eine erfolgreiche attributive<br />

Prüfung<br />

– Vorteile des Lehrens und Vorteile des Messens<br />

● Sichtprüfen<br />

● Hundertprozent Verlese- und Messprozesse<br />

● Automatische Dichtheitsprüfung in der Serienfertigung<br />

– Übersicht der wichtigsten Dichtheitsprüfmethoden<br />

(Auszug aus DIN EN 1779:1999-10)<br />

– Temperatur als Störeinfluss bei der Dichtheitsprüfung<br />

– Fähigkeitsanalyse und Überwachung<br />

2. Tag<br />

● Härteprüfverfahren<br />

– Übersicht zu den wichtigsten Härteprüfverfahren<br />

– Fähigkeitsanalyse und Überwachung<br />

● Drehmomentprüfung und Schraubtechnik<br />

– Die Anziehverfahren und ihre Anwendungen<br />

– Sonderschraubverfahren<br />

– Drehmoment-Kalibrierung, Fähigkeitsanalyse,<br />

Überwachung und Prozessabsicherung<br />

● Drei-Koordinaten-Messgeräte<br />

● Rauheitsmessungen<br />

● Optische Messgeräte<br />

– Übersicht optische Messgeräte<br />

– Profil- und Messsprojektoren<br />

● Wuchtmaschinen<br />

Seminardauer<br />

2 Tage, jeweils von 9.00 Uhr bis 17.00 Uhr<br />

Termine<br />

Berlin: 25./26.05.2011<br />

Weinheim: 22./23.11.2011<br />

In-House: nach Vereinbarung<br />

Leistungsumfang und Teilnahmegebühr<br />

Einschließlich ausführlicher Seminarunterlagen, gastronomischer<br />

Verpflegung und Teilnahmebestätigung 890,- EUR<br />

zzgl. MwSt.<br />

Für ein In-House-Training unterbreiten wir Ihnen gern ein<br />

Angebot.<br />

83<br />

Unsere Angebote -<br />

Ihr Nutzen<br />

Inhalts- und Terminübersicht<br />

2011<br />

Six Sigma /<br />

Lean Six Sigma / DFSS<br />

Statistische<br />

Methoden<br />

Fertigungsmesstechnik<br />

Lean<br />

Management<br />

Qualitätsmanagement /<br />

Qualitätstechniken<br />

Umweltschutz /<br />

Umweltmanagement<br />

Softwareangebote<br />

und -schulungen<br />

Trainer und<br />

Berater<br />

Publikationen /<br />

Stichwörter / AGB<br />

Softwarebestellung /<br />

Anmeldung / Infos

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!