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2. Wirkungsquerschnitte und Streulängen - Liss, Klaus-Dieter

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EXPERIMENTELLE BEUGUNGSEIGENSCHAFTEN DER SI1-XGE X KRISTALLE 877. Experimentelle Beugungseigenschaften derSi 1-x Ge x KristalleUm dem angestrebten Ziel des vorliegenden Projekts, dem Einsatz von Gradientenkristallenals Neutronenmonochromator näherzukommen, ist die Studie der Neutronen- <strong>und</strong> Röntgenbeugungseigenschaftenspeziell gezogener Testkristalle ein wesentlicher Punkt. Durch derartiggewonnene Ergebnisse lassen sich wiederum auf die Kristallstruktur <strong>und</strong> die ZusammensetzungRückschlüsse ziehen, so daß diesem Kapitel die Doppelrolle zwischen Überprüfung<strong>und</strong> Analyse zukommt.Um sich später auf den direkten Vergleich <strong>und</strong> die Ergebnisse der durchgeführten Experimentekonzentrieren zu können, sollen zunächst die für die Beugungsexperimente relevantenMeßapparate in einem untergeordneten Kapitel zusammengestellt werden.Der Vollständigkeit halber sei erwähnt, daß auch auf Röntgenbeugung beruhende Geräte, wiedie Lauekamera zur Kristallorientierung oder die Gammadiffraktometrie zur Krümmungsmessungverwendet wurden, deren Resultate bereits an geeigneter Stelle aufgeführt sind <strong>und</strong>nicht direkt mit der Beugungsanalyse der Legierungsvariation in Zusammenhang stehen.7.1. Die verwendeten DiffraktometerDie Experimente wurden an verschiedenen Diffraktometern, sowohl mit Neutronen- als auchmit Röntgenstrahlen, durchgeführt. Wichtige Kriterien für die Wahl einer Maschine sind ihreAuflösung in der durch die Legierungsvariation verursachten, longitudinalen Änderung desreziproken Gittervektors sowie eine ausreichende Transmission der Strahlung durch millimeterdickeSi 1-x Ge x Proben. Während letzteres für Neutronen kein Problem ist, haben wir imFall der Röntgenbeugung hochenergetische Strahlung im 45 keV bis 100 keV Bereichgewählt, deren Absorptionslänge wie im Kapitel <strong>2.</strong> geschildert, bereits schon einigeZentimeter beträgt.7.1.1. Das NeutronenrŸckstreuspektrometerDie Auflösung ∆k/k eines Kristalldiffraktometers wird mit Betrachtung der logarithmischenAbleitung des Braggesetzes∆kk = ∆G G+ cot θ ∆θ (212)

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