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Etude de la fiabilité porteurs chauds et des performances des ...

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tel-00117263, version 2 - 29 Jan 2007<br />

Thierry DI GILIO<br />

PMOS W/L=10/0.4µm - T ox =2.1nm<br />

FIG. II.22 – Comparaison <strong>de</strong>s courbes CP − VGl avec les courbes <strong>de</strong> courant <strong>de</strong> Grille (IG) <strong>et</strong><br />

le courant tunnel (IGB) calculé avec (II.47) [20].<br />

FIG. II.23 – Décrochage typique dû a une forte composante tunnel dans un mesure CP (Signal<br />

sinusoïdal, amplitu<strong>de</strong> ∆VA = 2.4V ).<br />

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