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Etude de la fiabilité porteurs chauds et des performances des ...

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tel-00117263, version 2 - 29 Jan 2007<br />

Thierry DI GILIO<br />

II.1 Analyse par mesures courant-tension I-V<br />

Elle consiste en l’étu<strong>de</strong> <strong>de</strong> <strong>la</strong> dérive <strong>de</strong>s principaux paramètres <strong>de</strong> fonctionnement du tran-<br />

sistor. Parmi les bons indicateurs <strong>de</strong> vieillissement <strong>de</strong> <strong>la</strong> structure, on trouve :<br />

• <strong>la</strong> variation re<strong>la</strong>tive du courant <strong>de</strong> drain pour une po<strong>la</strong>risation fixée, ∆IDS<br />

IDS 0<br />

• <strong>la</strong> variation <strong>de</strong> <strong>la</strong> tension <strong>de</strong> seuil ∆VT h<br />

• l’évolution du maximum <strong>de</strong> <strong>la</strong> transconductance Gm <strong>et</strong> sa variation re<strong>la</strong>tive ∆Gm<br />

Gm0<br />

tension <strong>de</strong> Drain donnée,<br />

• <strong>la</strong> variation <strong>de</strong> <strong>la</strong> pente sous seuil ∆S,<br />

• ainsi que les variations <strong>de</strong>s paramètres statiques tels que RSD, Ion, Ioff.<br />

pour une<br />

Toutes donnent <strong>de</strong>s informations sur <strong>la</strong> présence <strong>et</strong> <strong>la</strong> nature <strong>de</strong>s défauts, <strong>et</strong> sous certaines condi-<br />

tions leur localisation.<br />

II.1.1 Suivi <strong>de</strong> <strong>la</strong> variation du courant <strong>de</strong> Drain au cours du temps<br />

C’est <strong>la</strong> technique qui perm<strong>et</strong> <strong>de</strong> “voir” le plus simplement <strong>et</strong> directement le niveau <strong>de</strong> dé-<br />

gradation <strong>de</strong> <strong>la</strong> structure dans le temps. En eff<strong>et</strong> en suivant les variations re<strong>la</strong>tives (∆ID/ID0) du<br />

courant <strong>de</strong> Drain pour diverses po<strong>la</strong>risations, on peut se faire une idée qualitative du vieillisse-<br />

ment. Toutefois, il n’est pas possible d’appliquer <strong>la</strong> contrainte <strong>et</strong> <strong>de</strong> mesurer simultanément les<br />

caractéristiques ID − VG. On procè<strong>de</strong> donc simplement à une alternance <strong>de</strong> stress <strong>et</strong> <strong>de</strong> mesure.<br />

Etant donné que les pério<strong>de</strong> <strong>de</strong> stress s’étalent sur plusieurs milliers <strong>de</strong> secon<strong>de</strong>, il est plus com-<br />

mo<strong>de</strong> <strong>de</strong> travailler sur les échelles <strong>de</strong> temps logarithmiques, on peut ainsi se fixer <strong>de</strong>s intervalles<br />

<strong>de</strong> mesures fixes dans c<strong>et</strong>te échelle : 2,3,5 ou encore 8 fois par déca<strong>de</strong>s. On peut observer sur<br />

<strong>la</strong> Fig. II.2 l’évolution typique du courant <strong>de</strong> drain mesuré dans c<strong>et</strong> exemple pour VD = 25mV<br />

<strong>et</strong> VG = VDD/2 en mo<strong>de</strong> direct en fonction du temps <strong>de</strong> stress. C<strong>et</strong>te évolution est linéaire<br />

dans un graphe log-log, <strong>et</strong> <strong>la</strong> pente <strong>de</strong>s courbes est significative du facteur d’accélération du<br />

vieillissement du dispositif. Dans c<strong>et</strong>te partie nous n’entrerons pas plus dans <strong>la</strong> <strong>de</strong>scription <strong>de</strong>s<br />

mécanismes <strong>de</strong> dégradations, étudiés dans le chapitre suivant.<br />

a ) Régime linéaire<br />

La dépendance <strong>de</strong> <strong>la</strong> dégradation du courant <strong>de</strong> Drain en mo<strong>de</strong> linéaire en fonction <strong>de</strong> <strong>la</strong><br />

tension <strong>de</strong> mesure VG est une première façon <strong>de</strong> déterminer l’étalement <strong>de</strong> <strong>la</strong> région dégradée.<br />

En eff<strong>et</strong>, pendant <strong>la</strong> mesure <strong>la</strong> résistance totale est <strong>la</strong> somme <strong>de</strong> <strong>la</strong> résistance du canal Rch <strong>et</strong> <strong>de</strong><br />

<strong>la</strong> résistance série RSD (I.4.6):<br />

Rm = Rcanal + RSD =<br />

On peut observer <strong>de</strong>ux comportements :<br />

64<br />

1<br />

k0(VGS − VT h)<br />

θ<br />

+ + RSD<br />

k0<br />

(II.1)

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