Etude de la fiabilité porteurs chauds et des performances des ...

tel-00117263, version 2 - 29 Jan 2007
n
Chapitre I
FIG. I.25 – Modélisation du courant de Drain suivant VGS pour un canal N court (W/L =
10/0.13µm) et oxyde ultra mince Tox = 2.1nm, en régime linéaire avec une réduction de
mobilité à trois coefficients, incluant les effets CLM et DIBL.
FIG. I.26 – Modélisation du courant de Drain suivant VDS pour un canal N court (W/L =
10/0.13µm) et oxyde ultra mince Tox = 2.1nm, en régime linéaire avec une réduction de
mobilité à trois coefficients, incluant les effets CLM et DIBL.
43