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Dissertation

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58 4.1. Selbstabbildung periodischer Strukturen - Der Talboteffekt<br />

1. den Vielstrahlinterferometern, da mehr als zwei Wellenfronte miteinander<br />

interferieren,<br />

2. den Common-Path-Interferometer, da alle Teile der geteilten Wellenfront<br />

auf einem gemeinsamen Pfad propagieren und<br />

3. den lateralen Shearing-Interferometern, da die Wellenfront mit mehreren<br />

verschobenen Versionen von sich selbst interferiert.<br />

Praktische Anwendung finden Talbotinterferometer in verschiedenen Gebieten<br />

[54], wie in der Spektroskopie [50], in der Interferometrie [15,16], zum Kollimationstest<br />

[55] und zur spatialen Filterung [56, 57]. Auch zum sogenannten Nulltest<br />

ist das Talbotinterferometer geeignet. Um die Güte eines Phasenobjektes zu beurteilen,<br />

wird hierbei das zweite Gitter so gestaltet, dass es dem durch ein Standardobjekt<br />

deformierten ersten Gitter entspricht. Wenn das zu testende Objekt<br />

vom Standardobjekt abweicht, enstehen Moiré-Streifen. Ist das zu testende Objekt<br />

perfekt, passt die Selbstabbildung von G1 nach der Deformation perfekt auf<br />

G2 und es entsteht eine gleichmäßige helle oder dunkle Fläche. Das zweite Gitter<br />

kann ein Foto, ein Dia oder eine Maske des deformierten Gitters G1 [58] oder ein<br />

computergeneriertes Hologramm (CGH) [59] sein. In der Literatur wird weiterhin<br />

die Verwendung von Talbotinterferometern als Zeitbereichsfilter [60,61] berichtet.<br />

Anwendung findet es auch bei der Untersuchung vibrierender Phasenobjekte [62]<br />

und zur Messung von Stufenhöhen mit zwei Wellenlängen [63]. Talbotinterferometer<br />

mit vergrößertem Shear-Wert werden von Patorski [64] vorgestellt. Sie<br />

Platten [65] verwendet.<br />

einfallende<br />

ebene Welle<br />

Einlass der<br />

Suspension<br />

Gitter<br />

Auslass der<br />

Suspension<br />

werden ebenfalls zur Neigungs- und Defekterkennung von gekrümmten PMMA-<br />

Bewegungsrichtung<br />

der<br />

Partikel<br />

Selbstabbildungsebene<br />

=Detektionsebene<br />

Bild 4.11.: Messaufbau eines Talbotinterferometers zur Partikelanalyse.<br />

Der Einfluss der Partikelstreuung auf die entstehenden Selbstabbildungen wurde<br />

bisher noch nicht untersucht und ist Gegenstand dieser Arbeit. Bild 4.11 zeigt<br />

eine mögliche Realisierung eines Systems zur quantitativen Partikelanalyse auf<br />

Basis der Talbotinterferometrie. Zu sehen ist ein Kanal, der von einer Suspension<br />

durchströmt wird. Senkrecht dazu bildet sich das durch ein Gitter verursachte<br />

Talbotmuster aus, das durch die sich bewegenden Partikel gestört wird. Am Ort

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