Scarica gli atti - Gruppo del Colore

(figura 2 e 3), ma entrambi capaci di misurare il fattore spettrale di riflessione di
una superficie.
In realtà i due strumenti misurano direttamente il coefficiente spettrale di radianza
q, definito come rapporto tra la radianza (in una data direzione di osservazione) di
una superficie e l’irradiamento sulla stessa. Questo parametro, indicato spesso con
l’acronimo BRDF (BidiRectional Reflectance Function), è quello usato
nell’algoritmo IEN per la progettazione dell’impianto di illuminazione.
Se necessario, il fattore di riflessione ρ, definito come rapporto tra il flusso
energetico riflesso e quello incidente, può essere facilmente calcolato, noto q, se si
ipotizza o si conosce come la superficie riflette la radiazione incidente nelle
diverse direzioni dello spazio (ad esempio se la superficie può essere considerata
una superficie di Lambert).
I risultati sono memorizzati in una matrice a tre dimensioni: righe, colonne e fogli.
Righe e colonne corrispondono alle dimensioni lineari della superficie misurata, il
foglio contiene le informazioni spettrali a una data lunghezza d’onda. In altri
termini ogni foglio contiene una “immagine” dei valori del coefficiente di radianza
della superficie misurata a una determinata lunghezza d’onda.
Completano il MIR un dispositivo per generare un riferimento dimensionale e due
proiettori con lampade ad incandescenza per l’illuminazione dell’opera da
misurare
2.1 Il primo sottosistema
Il primo sottosistema indicato per brevità col nome di “gruppo monocromatore” è
composto da:
– uno spettrografo a immagine con obiettivo fotografico di 50 mm di lunghezza
focale;
– un sensore CCD di tipo scientifico, di 256 x1024 pixel, raffreddato ad azoto con
un’otturatore elettromagnetico radiale, per regolare i tempi di esposizione;
– uno specchio, montato su tavole goniometriche motorizzate, in grado di ruotare
su due assi tra loro perpendicolari e con il centro di rotazione sull’asse ottico
dello spettrografo.
L’obiettivo fotografico focalizza l’immagine inquadrata sul piano della fenditura
d’ingresso dello spettrografo mentre la superficie sensibile dal sensore CCD
coincide con il piano focale di uscita. La zona di superficie da misurare,
corrispondente alla zona inquadrata, viene determinata, previo un allineamento non
critico del sistema rispetto all’opera, con la rotazione dello specchio. Per
particolari esigenze di campo inquadrato e di distanza superficie-rivelatore,
l’obbiettivo può essere sostituito con uno di lunghezza focale opportuna, previa
ritaratura del sistema.
Lo strumento risultante ha un’elevata risoluzione spettrale, essendo basato su uno
spettrografo a immagine a doppio reticolo (1200 linee/mm e 600 linee/mm) e
permette di coprire tutto il campo del visibile e del vicino infrarosso. Normalmente
le misurazioni sono eseguite con risoluzione di 1 nm, integrando la lettura di più
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