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Scarica gli atti - Gruppo del Colore

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Nella zona di ripresa vengono inclusi de<strong>gli</strong> standard di riflettanza di valore noto<br />

(Spectralon, Labsphere 2%, 12%, 25%, 50%, 80%, 99%); tramite un algoritmo di<br />

interpolazione numerica rispetto a tali riferimenti si ottengono, per ciascuna<br />

immagine, i valori di riflettanza alla lunghezza d’onda selezionata dal filtro. Lo<br />

spettro di riflettanza de<strong>gli</strong> standard (figura 1) è stato verificato in laboratorio, con<br />

uno spettrofotometro a sfera integratrice, (Cecil 3000) sono state osservate alcune<br />

discrepanze rispetto ai valori certificati in parte attribuibili all’invecchiamento<br />

de<strong>gli</strong> standard stessi, a causa <strong>del</strong>la continua esposizione alla luce che può alterare<br />

le proprietà ottiche <strong>del</strong> materiale.<br />

R%<br />

80,00<br />

70,00<br />

60,00<br />

50,00<br />

40,00<br />

30,00<br />

20,00<br />

10,00<br />

Standard di riflettanza<br />

0,00<br />

400 500 600 700 800 900 1000<br />

Lunghezza d'onda (nm)<br />

Fig. 1 – Spettri di riflettanza de<strong>gli</strong> standard di riferimento<br />

Il sistema multispettrale consiste in una telecamera con rivelatore CCD al silicio,<br />

munita di filtri interferenziali; questi sono montati su un’apposita ruota fissata tra<br />

telecamera e CCD. Il NIR 2000 acquisisce immagini digitali ciascuna <strong>del</strong>le quali<br />

porta le informazioni relative alla riflettanza diffusa dal campione nella banda<br />

spettrale trasmessa dal filtro interferenziale. In figura 2 sono riportate le curve<br />

spettrali dei filtri utilizzati misurate col sistema CECIL.<br />

La verifica dei valori di riflettanza ottenuti con il metodo d’immagine è stata<br />

effettuata per confronto con i valori misurati con due sistemi a sfera integratrice:<br />

uno Spettrocolorimetro Minolta 2600d con una risoluzione di 10 nm nel visibile e<br />

lo spettrofotometro da banco CECIL3000 con una risoluzione nominale di 1 nm<br />

nell’intervallo 360-999 nm. Il confronto è stato effettuato con misure di tipo SPINC<br />

(componente speculare inclusa) [4].<br />

2%<br />

12%<br />

25%<br />

50%<br />

80%<br />

91

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