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Appendice B - La termografia
segnale se interrogato. Per evitare il rumore, il sensore è schermato e raffreddato fino a
una temperatura di 77 K tramite un ciclo Stirling.
L’immagine è focalizzata sulla matrice da un ottica analoga a quella usata nel visibile
ma costituita non da un comune vetro, che risulterebbe opaco alla radiazione infrarossa,
bensì da silicio, che presenta una finestra di trasparenza proprio nella banda richiesta (da
3 a 5 μm). Il silicio possiede anche l’importante caratteristica di essere totalmente opaco
alle altre frequenze, comprese quelle del visibile, riuscendo a filtrare la radiazione
incidente e a far passare solo quella infrarossa ottenendo, in tal modo, una drastica
diminuzione del rumore. Lo svantaggio di questo tipo di ottiche, oltre all’elevato costo,
consiste in un alto coefficiente di riflessione, che comporta la perdita del 30-40 % della
radiazione IR incidente. Questo inconveniente è in parte risolto dalla deposizione sulla
lente di un “anti reflection coating” che, riducendo la discontinuità dell’accoppiamento
ottico dei due mezzi, diminuisce la quantità di radiazione riflessa.
Figura B.7: Trattamento antiriflesso su un ottica all’infrarosso.
Il focal plain array viene interrogato, a intervalli di tempo fissati, da un analizzatore
grafico che, dopo un primo filtraggio dei dati, li trasferisce a un calcolatore. Questo
sistema di acquisizione può campionare un’immagine ogni 20 ms. È possibile, però,
lavorare a frequenze più basse semplicemente omettendo di memorizzare alcuni frame
(skip in). Tale apparato è in grado di rilevare variazioni della temperatura di 20 mK sulla
temperatura di 25°C se lavora in continuo e se lavora in lockin ha una sensibilità
dell’ordine di 1 mK.
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