23.11.2014 Views

xxiii πανελληνιο συνεδριο φυσικης στερεας καταστασης & επιστημης ...

xxiii πανελληνιο συνεδριο φυσικης στερεας καταστασης & επιστημης ...

xxiii πανελληνιο συνεδριο φυσικης στερεας καταστασης & επιστημης ...

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

με 0.80 eV στη διεπιφάνεια CoPc/Au και 0.20 eV στη διεπιφάνεια CoPc/ΙΤΟ και εφόσον δεν παρατηρείται κάμψη των<br />

ενεργειακών ζωνών του οργανικού οι μεταβολές του έργου εξόδου αντιπροσωπεύουν το μέγεθος του διπόλου που<br />

σχηματίζεται στη διεπιφάνεια.<br />

C1s Binding Energy (eV)<br />

285,4<br />

285,3<br />

285,2<br />

285,1<br />

285,0<br />

284,9<br />

284,8<br />

284,7<br />

CoPc/Au<br />

CoPc/ITO<br />

High Binding Energy cut-off (eV)<br />

5,2<br />

5,0<br />

4,8<br />

4,6<br />

4,4<br />

4,2<br />

CoPc/ITO<br />

CoPc/Au<br />

284,6<br />

0 1 2 3 4 5<br />

CoPc thickness (nm)<br />

0 1 2 3 4 5 6 7<br />

CoPc thickness (nm)<br />

Σχήμα 1. Μεταβολή της ενέργειας σύνδεσης<br />

της κορυφής XPS του C1s κατά τις διαδοχικές<br />

αποθέσεις της CoPc πάνω σε Au και ITO.<br />

Σχήμα 2. Μεταβολή του έργου εξόδου<br />

κατά τον σχηματισμό των διεπιφανειών<br />

CoPc/Au και CoPc/ITO.<br />

Από τα φάσματα UPS προσδιορίστηκε επίσης η θέση του υψηλότερου κατειλημμένου μοριακού τροχιακού (HOMO) στο<br />

υμένιο της CoPc πάχους ~5.0 nm, το οποίο βρέθηκε σε ενέργεια σύνδεσης 0.80 ±0.05 eV και στις δύο διεπιφάνειες, ενώ<br />

υπολογίστηκε το φράγμα έγχυσης οπών (Φ bh ), το οποίο είναι ίσο με το HOMO, 0.80 ±0.05 eV και στις δύο διεπιφάνειες,<br />

καθώς δεν συμβαίνει κάμψη των ενεργειακών ζωνών του οργανικού. Προσδιορίστηκε τέλος η ενέργεια ιονισμού (I) της<br />

CoPc από τη σχέση, I= eΦ (CoPc) + HOMO cut-off = 5.20 ±0.05 eV, μέγεθος το οποίο έχει σταθερή τιμή για κάθε υλικό. Από<br />

τον συνδυασμό των πειραματικών αποτελεσμάτων για τις διεπιφάνειες CoPc/Au και CoPc/ITO μπορούμε να σχεδιάσουμε το<br />

διάγραμμα των ενεργειακών επιπέδων των δύο υλικών στις ετεροεπαφές (σχήμα 3).<br />

Η ενεργειακή μετατόπιση στα επίπεδα καρδιάς του οργανικού υμενίου, η οποία παρατηρείται για πάχη μέχρι ~2.0<br />

nm και στις δύο διεπιφάνειες έχει αντίθετη φορά. Στην περίπτωση του ΙΤΟ, παρατηρείται μεταβολή κατά +0.54 eV η οποία<br />

αποδίδεται σε πιθανή μεταφορά φορτίου από το οργανικό υμένιο στο υπόστρωμα ή σε εμφάνιση φαινομένων αρχικής<br />

κατάστασης λόγω ηλεκτρονιακής θωράκισης των σχηματιζόμενων οπών στο οργανικό μόριο από τα γειτονικά μόρια. Η<br />

μικρή αύξηση του έργου εξόδου στα πρώτα στάδια των αποθέσεων οφείλεται είτε στη μεταφορά φορτίου προς το<br />

υπόστρωμα η οποία μειώνεται με την αύξηση του πάχους του οργανικού υμενίου, είτε στην εξομάλυνση της τραχιάς<br />

επιφάνειας του ΙΤΟ, λόγω της ιοντοβολής με αργό, από τα πρώτα αποτιθέμενα οργανικά μόρια. Στην περίπτωση του Au, η<br />

αρχική μετατόπιση της ενέργειας σύνδεσης οφείλεται στη θωράκιση των οπών από τα ελεύθερα ηλεκτρόνια του χρυσού. Στα<br />

πρώτα στάδια των αποθέσεων της CoPc συμβαίνει ανακατανομή του ηλεκτρονιακού νέφους στην επιφάνεια του μετάλλου<br />

εξαιτίας της παρουσίας των μορίων του οργανικού υλικού, με αποτέλεσμα να «πιέζονται» τα άκρα του ηλεκτρονιακού<br />

νέφους προς το μέταλλο συντελώντας σε θετική φόρτιση της επιφάνειας κοντά στο επίπεδο του κενού και επομένως στο<br />

χαμήλωμα του επιπέδου κενού και στη μείωση του έργου εξόδου, σχηματίζοντας έτσι ένα επιφανειακό δίπολο.<br />

Evac<br />

eD = 0.80 eV<br />

Evac<br />

Evac<br />

eD = +0.20 eV<br />

Evac<br />

eΦ(Au) = 5.20 eV<br />

eΦ(CoPc) = 4.40 eV<br />

I= 5.20 eV<br />

eΦ(ITO) = 4.20 eV<br />

I= 5.20 eV<br />

eΦ(CoPc) = 4.40 eV<br />

E F<br />

E F<br />

Φ bh = 0.80 eV<br />

HOMO cutoff<br />

Φ bh = 0.80 eV<br />

HOMO cutoff<br />

Au<br />

CoPc<br />

ITO<br />

CoPc<br />

Σχήμα 3. Σχηματική απεικόνιση των ενεργειακών διαγραμμάτων στις διεπιφάνειες CoPc/Au (αριστερά) και<br />

CoPc/ITO (δεξιά).<br />

Αναφορές<br />

[1] Upward M.D., Beton P.H., Moriarty P., Surf. Sci. 441 (1999) 21.<br />

[2] Takada M., Tada H., Chem. Phys. Lett. 392 (2004) 265.<br />

[3] Abdel-Malik T.G., Abdel-Latif R.M., Thin Solid Films 305 (1997) 336.<br />

[4] Scudiero L., Hipps K.W., Barlow Dan E., J. Phys. Chem. B 107 (2003) 2903.<br />

[5] Höchst H., Goldmann A., Hüfner S., Malter H., Phys. Stat. Sol. (b) 76 (1976) 559.<br />

[6] Peisert H., Knupfer M., Schwieger T., Fink J., Appl. Phys. Lett. 80/16 (2002) 2916.<br />

13

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!