23.11.2014 Views

xxiii πανελληνιο συνεδριο φυσικης στερεας καταστασης & επιστημης ...

xxiii πανελληνιο συνεδριο φυσικης στερεας καταστασης & επιστημης ...

xxiii πανελληνιο συνεδριο φυσικης στερεας καταστασης & επιστημης ...

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Id (mA)<br />

-0,3<br />

-0,2<br />

-0,1<br />

Vg=0<br />

Vg=-1<br />

Vg=-2<br />

Vg=-3<br />

Vg=-4<br />

Id (μA)<br />

-1,0<br />

-0,8<br />

-0,6<br />

-0,4<br />

-0,2<br />

Vg=0<br />

Vg=-5<br />

Vg=-7.5<br />

Vg=-10<br />

Vg=-15<br />

Vg=-20<br />

0,0<br />

0,0 -0,1 -0,2 -0,3 -0,4 -0,5 -0,6 -0,7<br />

Vd (V)<br />

0,0<br />

0,2 0,0 -0,2 -0,4 -0,6 -0,8 -1,0<br />

Vd (V)<br />

(α)<br />

(β)<br />

Σχήμα 2. (α) Εξάρτηση του ρεύματος Ι d από την τάση V d ενός OFET με 50 nm φιλμ NiS x PC, αναλογία W/L 23275 και<br />

διηλεκτρικό SiO 2 πάχους 42 nm, αποτεθειμένου με spin-coating και με ανόπτηση στους 50ºC: (α) NiS 1.3 PC με ευκινησία<br />

1.08 cm 2 V -1 s -1 και (β) NiS 3.3 PC με ευκινησία 0.02 cm 2 V -1 s -1 .<br />

Πίνακας 1. Οι τιμές ευκινησίας για διάφορους τύπους φθαλοκυανινών.<br />

Φθαλοκυανίνη Τρόπος παρασκευής του φιλμ Τιμή ευκινησίας (cm 2 V -1 s -1 )<br />

NiPC Εξάχνωση 10 -5<br />

CoPC Εξάχνωση 4 × 10 -4<br />

NiS 1.3 PC Spin-coating 1.08<br />

NiS 3.3 PC Spin-coating 0.02<br />

CuS 3.8 PC Spin-coating 0.02<br />

CoS 1.6 PC Spin-coating 0.2<br />

ZnS 1.5 PC Spin-coating 0.02<br />

AlS 1.5 PC 2 Spin-coating 0.02<br />

Πίνακας 2. Ατομικές αναλογίες των στοιχείων που ανιχνεύονται στην επιφάνεια των φιλμ NiS x PC, CoS x PC και CuS x PC<br />

που προετοιμάζονται με spin-coating. Οι αναμενόμενες ατομικές αναλογίες σύμφωνα με τη χημική δομή των μορίων<br />

φθαλοκυανινών μετάλλων παρουσιάζονται σε παρένθεση (εκτιμώμενη αβεβαιότητα ± 10%).<br />

MeS x PC Metal C1s/Met O1s/Met N1s/Met S2p/Met Na1s/Met<br />

NiS 1.3 PC Ni2p 3/2<br />

42<br />

(32)<br />

NiS 3.3 PC Ni2p 3/2<br />

35<br />

(32)<br />

CoS 1.6 PC Co2p 3/2<br />

42<br />

(32)<br />

CuS 3.8 PC Cu2p 3/2<br />

46<br />

(32)<br />

8<br />

(7.2)<br />

14<br />

(12)<br />

20<br />

(4.5)<br />

13.2<br />

(12)<br />

8<br />

(8)<br />

8.2<br />

(8)<br />

7.7<br />

(8)<br />

8.5<br />

(8)<br />

1.5<br />

(2.4)<br />

3.3<br />

(4)<br />

1.5<br />

(1.5)<br />

4.4<br />

(4)<br />

1.3<br />

(2.4)<br />

3.3<br />

(4)<br />

1.6<br />

(1.5)<br />

3.8<br />

(4)<br />

Συμπεράσματα<br />

Για τη σύγκριση των διατάξεων χρησιμοποιήθηκαν αμφότερες η εξάχνωση και το spin-coating. Οι τιμές της ευκινησίας<br />

πεδίου των διατάξεων OFET που χρησιμοποιούν φιλμ MeS x PC είναι πολύ υψηλότερες από τις τιμές των αντίστοιχων<br />

διατάξεων που χρησιμοποιούν εξαχνωμένες μη-σουλφονικές φθαλοκυανίνες μετάλλων. Μία χαρακτηριστική τιμή λόγου<br />

I ON /I OFF είναι 10 3 . Ένας από τους λόγους για τους οποίους, αντίθετα από τα OFET με MePC, τα OFET των MeS x PC που<br />

προκύπτουν από διάλυμα είναι ανίκανα να παρουσιάσουν μια ικανοποιητική περιοχή κόρου των καμπυλών ρεύματος Ι d –<br />

τάσης V d , είναι ότι οι αγωγιμότητες των οργανικών φιλμ είναι πολύ υψηλές, γεγονός που υποβοηθάται και από τα άτομα Na<br />

που συνεισφέρουν οι υποκαταστάτες (–SO 3 Na) των μορίων. Επίσης εξετάστηκαν ο ρόλος του κεντρικού μετάλλου και των<br />

υποκαταστατών. Διαπιστώθηκε ότι το κεντρικό άτομο μετάλλων είναι σημαντικό, δεδομένου ότι προκαλεί διαφοροποιήσεις<br />

στις μετρούμενες ηλεκτρικές ιδιότητες. Το πλέον υποσχόμενο μόριο είναι το NiS x PC, ακολουθούμενο από το CoS x PC και<br />

τελικά τα Zn-, Al- και CuS x PC, τα οποία παρουσιάζουν την ίδια τιμή ευκινησίας. Αλλά σημαντικότερος είναι ο ρόλος των<br />

υποκαταστατών. Οι διατάξεις που χρησιμοποιούσαν NiS 1.3 PC παρουσίασαν πολύ υψηλότερη τιμή ευκινησίας επίδρασης<br />

πεδίου από το αντίστοιχο NiS 3.3 PC. Σαν γενικό συμπέρασμα, τα τρανζίστορ που βασίζονται σε MeS x PC συνδυάζουν ευκολία<br />

κατασκευής με υψηλή απόδοση, ειδικά σε σύγκριση με τα μη-σουλφονικά αντίστοιχά τους.<br />

Αναφορές<br />

[1] R. Zeis, T.Siegrist and Ch.Kloc, Appl. Phys. Lett. 86 (2005) 022103<br />

[2] F.Yang, M.Shtein and S.R.Forrest, Nature Materials 4 (2005) 37<br />

[3] G.Wang, I.Zhivkov, J.Sworakowski and K.Yakushi, iMAPS Proceedings, Prague (2004) 169<br />

[4] G.Guillard, R.Madru, M.Al Sadoun, M.Maitrot, J. Appl. Phys. 66 (1989) 4554<br />

65

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!