23.11.2014 Views

xxiii πανελληνιο συνεδριο φυσικης στερεας καταστασης & επιστημης ...

xxiii πανελληνιο συνεδριο φυσικης στερεας καταστασης & επιστημης ...

xxiii πανελληνιο συνεδριο φυσικης στερεας καταστασης & επιστημης ...

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Προσοµοίωση, ταυτοποίηση σχηµάτων και µετρολογία στη λιθογραφία ηλεκτρονικής<br />

δέσµης<br />

Τσικρίκας Ν * ., Πάτσης Γ. Π., Ράπτης Ι.<br />

Ινστιτούτο Μικροηλεκτρονικής, ΕΚΕΦΕ “∆ηµόκριτος”, Αθήνα, 15310<br />

* tsikrikn@imel.demokritos.gr<br />

Η πολυπλοκότητα των σχεδίων ηλεκτρονικών κυκλωµάτων πολύ µεγάλης ολοκλήρωσης αυξάνει συνεχώς λόγω των<br />

διορθωτικών προσθηκών της οπτικής λιθογραφίας. Η κρίσιµη διάσταση αυτών µειώνεται συνεχώς και οι απαιτήσεις στην<br />

ακρίβεια αποτύπωσής τους γίνονται όλο και µεγαλύτερες. Οι παράγοντες αυτοί καθώς και ο έλεγχος σφαλµάτων αυξάνουν<br />

σηµαντικά το κόστος κατασκευής τους.<br />

Σκοπός της παρούσας εργασίας είναι η ανάπτυξη ενός λογισµικού ικανού να προβλέψει την ακριβή µορφή του προς<br />

αποτύπωση κυκλώµατος και να επιλέξει τις κατάλληλες συνθήκες εγγραφής του πριν την υλοποίησή του στο δισκίδιο. Η<br />

διαδικασία αποτελείται από τρία σκέλη (Εικόνα 1): ∆ιαχείριση των αρχείων που φέρουν το επιθυµητό για εγγραφή σχέδιο,<br />

προσοµοίωση της λιθογραφικής διαδικασίας, διαχείριση εικόνων ηλεκτρονικού µικροσκοπίου σάρωσης (SEM).<br />

Στο πρώτο σκέλος εξάγεται η συνάρτηση που περιγράφει το επιθυµητό σχέδιο (Εικόνα 2) αξιοποιώντας κατάλληλα τις<br />

πληροφορίες όπως εµφανίζονται στους συνήθεις τρόπους τυποποίησης (αρχεία CIF ή GDSII). Η συνάρτηση αυτή θα<br />

χρησιµοποιηθεί τόσο για την προσοµοίωση της εγγραφής όσο και κατά το στάδιο του ελέγχου του αποτελέσµατος. Ο<br />

έλεγχος πραγµατοποιείται συγκρίνοντας τη συνάρτηση εξόδου της προσοµοίωσης µε το αρχικό σχέδιο καθώς και τα<br />

πειραµατικά αποτελέσµατα αξιοποιώντας κατάλληλα τις εικόνες SEM.<br />

Στο δεύτερο σκέλος προσοµοιώνεται η λιθογραφική διαδικασία σε δύο ή τρείς διαστάσεις. Για το σκοπό αυτό έχει<br />

αναπτυχθεί στοχαστικός αλγόριθµος (Monte Carlo) ο οποίος υπολογίζει την εναπόθεση ενέργειας από σηµειακή<br />

ηλεκτρονική δέσµη στο αντίστοιχο πολυµερές που θα χρησιµοποιηθεί στη λιθογραφία. Η συνέλιξη της προκύπτουσας<br />

συνάρτησης ενεργειακής εναπόθεσης µε µια γκαουσιανή συνάρτηση η οποία περιγράφει την πραγµατική δέσµη δίνει την<br />

ενεργειακή εναπόθεση στο επιθυµητό υλικό από την πραγµατική δέσµη σε συνάρτηση µε την ακτινική απόσταση αλλά και<br />

το βάθος [1]. Από τη συνάρτηση αυτή καθώς και τη συνάρτηση που περιγράφει το προς εγγραφή σχέδιο προκύπτει η<br />

συνολική ενεργειακή εναπόθεση στο πολυµερές (Εικόνα 3).<br />

Το τρίτο σκέλος αφορά στη διαχείριση των εικόνων SEM (Εικόνες 4 και 5). Εικόνες συνήθως RGB ή grayscale<br />

µετατρέπονται σε άσπρο–µαύρο, εξάγεται δηλαδή µια δυαδική συνάρτηση η οποία περιγράφει το πειραµατικό αποτέλεσµα.<br />

Η σύγκριση αυτής µε τα αποτελέσµατα της προσοµοίωσης παρέχει στοιχεία για την αξιολόγηση και βελτιστοποίηση της<br />

µεθόδου.<br />

Η σύγκριση των αποτελεσµάτων είναι η διαδικασία της µετρολογίας για την πραγµατοποίηση της οποίας έχει αναπτυχθεί<br />

κατάλληλος αλγόριθµος ταύτισης δύο συναρτήσεων (Εικόνα 6) [2] αξιοποιώντας τη µαθηµατική διαδικασία συσχέτισης δυο<br />

συναρτήσεων. Παράγοντες που µετρούνται είναι η κρίσιµη διάσταση (CD) και η πλευρική τραχύτητα των δοµών (Line-Edge<br />

Roughness, Εικόνα 7) [3].<br />

Τα αποτελέσµατα αφορούν στην ποιότητα και στην πιστότητα της κατασκευής. Η όλη διαδικασία είναι πολύ σηµαντική<br />

για στην εξαγωγή ή βελτιστοποίηση των κανόνων σχεδίασης, την αξιολόγηση των χρησιµοποιούµενων υλικών καθώς και<br />

των συνθηκών εγγραφής και εµφάνισης.<br />

[1] S.A Rishton and D. P. Kern J. Vac. Sci. Technol. B 5 p. 135 (1987).<br />

[2] K. Miura, M. Fujita, K. Nakamae, H. Fujioka J. Vac. Sci. Technol. B23 3065 (2005).<br />

[3] G.P. Patsis, E. Gogolides J. Vac. Sci. Technol. B23 1371 (2005).<br />

25

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!