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THÈSE - Université Ferhat Abbas de Sétif

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3.2 Description du banc d’essais du SAPF<br />

temps d’exécution beaucoup plus rapi<strong>de</strong>s. En effet, les systèmes <strong>de</strong> filtrage actif<br />

constituent <strong>de</strong>s procédés exigeants et avec <strong>de</strong>s dynamiques importantes. Cette<br />

technique améliore la qualité <strong>de</strong>s on<strong>de</strong>s électriques au niveau du réseau. Dans ce<br />

cas, l’algorithme <strong>de</strong> contrôle fournit les références en courant ou en tension,<br />

toujours dans l’environnement MATLAB/Simulink ®<br />

et via la carte dSPACE. Ainsi,<br />

pour générer les signaux <strong>de</strong> comman<strong>de</strong> MLI, <strong>de</strong>ux cartes ont été développées. La<br />

première effectue une comparaison par hystérésis du signal analogique réel entre le<br />

courant <strong>de</strong> source I ) et le signal <strong>de</strong> référence I ) . La <strong>de</strong>uxième carte<br />

( s( a,<br />

c)<br />

réalise la comparaison entre une porteuse triangulaire<br />

( sref ( a,<br />

c)<br />

V <strong>de</strong> fréquence f<br />

m<br />

m<br />

= 10KHz<br />

et le signal <strong>de</strong> référence<br />

V<br />

réf<br />

obtenu comme précé<strong>de</strong>mment (Fig.3.19)<br />

b. Description <strong>de</strong> la carte d’hystérésis analogique<br />

Afin <strong>de</strong> maintenir le courant <strong>de</strong> source autour <strong>de</strong> sa référence, déterminée par le<br />

calculateur numérique, une carte analogique dont le rôle est d’effectuer une<br />

comparaison par hystérésis est mise en œuvre et son schéma est indiqué sur la<br />

figure 3.20. L’erreurε entre les <strong>de</strong>ux signaux est obtenue par un amplificateur<br />

différentiel (AD620AN) et elle constitue l’entrée d’un comparateur à hystérésis non<br />

inverseur à base d’un amplificateur opérationnel à faible bruit (TL071CN) dont les<br />

résistances sont calculées pour obtenir une ban<strong>de</strong> d’hystérésis selon l’équation :<br />

HB<br />

R<br />

R<br />

= 2⋅Usat<br />

⋅<br />

1<br />

(3.83)<br />

2<br />

Où U sat = 14V représente la tension <strong>de</strong> saturation <strong>de</strong> l’amplificateur. Pour notre<br />

application les résistances ont été choisies <strong>de</strong> façon à atteindre une ban<strong>de</strong><br />

R22<br />

R2<br />

C1<br />

+15<br />

Rv3<br />

+15<br />

Rv22<br />

Suiveur G = 1<br />

Isref<br />

Is<br />

AD620AN<br />

3<br />

C2<br />

2<br />

7<br />

4<br />

8 1<br />

−15<br />

6<br />

R3<br />

Différentiateur<br />

R11<br />

R1<br />

ε = (Isref<br />

- Is)<br />

Rv11<br />

3<br />

2<br />

4<br />

−15<br />

1<br />

8<br />

C4<br />

C3<br />

TL071CN<br />

( ± Usat)<br />

Comparateu r à hystérésis<br />

6<br />

R4<br />

R5<br />

Rv5<br />

−15<br />

TL071CN<br />

3<br />

6<br />

2<br />

7<br />

1<br />

4<br />

8<br />

+15<br />

C6<br />

C7<br />

Dz1<br />

FIG. 3.20- Schéma électronique du comparateur à hystérésis analogique.<br />

129

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