(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

Powierzchnia zbyt chropowata by wykonaćanalizę przy użyciu mikroskopu AFMa)Powierzchnia szlifowana proszkiemo granulacie 4,5 μm po cięciu.b)Próbka szlifowana proszkiem o granulacie 4,5 μmTrawiona w 9% roztworze bromu w metanoluRMS Roughness ≈ 1,03 nm.c)Próbka szlifowana proszkiem o granulacie 29 μmTrawiona w 9% roztworze bromu w metanoluRMS Roughness ≈ 1,3 nm.d)Próbka szlifowana proszkiem o granulacie 4,5 μmTrawiona w 9% roztworze bromu w metanoluPolerowana mechano-chemicznie(brom-metanol-glikol)RMS Roughness ≈ 1,026 nm.Próbka szlifowana proszkiem o granulacie 4,5 μmTrawiona w 9% roztworze bromu w metanoluPolerowana mechano-chemicznie(brom-metanol-glikol)Trawiona „epi ready”RMS Roughness ≈1,6 nm.e)Rysunek 4.3.4. Obrazy z mikroskopu AFM pięciu różnie przygotowanych płytek (Cd,Mn)Te (wytopnr. 4808), jako podłoży do procesów epitaksji i napylania.100