(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN
(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN
(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
Nr próbkiPodłożeWarstwaFWHM(arc sec.)orientacjastrukturaFWHM(arc sec.)orientacjastrukturaWidoczne różnice pomiędzy stałymi sieci z literatury i wykonanych pomiarów nie byłypoddane dokładniejszym rozważaniom. Dlatego też nie jest znane źródło tych różnic.Rysunek 5.2.7. Obraz dyfrakcji rentgenowskiejdla monokrystalicznych warstw (o grubości1 μm):A) płytka nr 4580A; warstwa <strong>Cd</strong><strong>Te</strong>:I,B) płytka nr 020409A; warstwa <strong>Cd</strong><strong>Te</strong>:I,C) płytka nr 4527; warstwa Zn<strong>Te</strong>:Sb (o refleksach(111), (222) i (444)) wzrośnięta na (<strong>Cd</strong>,<strong>Mn</strong>)<strong>Te</strong>(333).Dyfrakcja rentgenowskaWyniki dla podłożaWyniki dla warstwyStałasiecia (Å)Stałasiecia (Å)4527 (<strong>Cd</strong>,<strong>Mn</strong>)<strong>Te</strong>:V Zn<strong>Te</strong>:Sb 68 (111) mono 6,476 43 (111) mono 6,1144580A (<strong>Cd</strong>,<strong>Mn</strong>)<strong>Te</strong>:V <strong>Cd</strong><strong>Te</strong>:I 16 (111) mono 6,476 10 (111) mono 6,489020409AGaAs/(<strong>Cd</strong>,<strong>Mn</strong>)<strong>Te</strong><strong>Cd</strong><strong>Te</strong>:I 36 (100) mono 6,476 24 (100) mono 6,489Tabela 5.2.1. Dane dotyczące badań dyfrakcyjnych monokrystalicznych warstw wzrastanych na różnychpodłożach.Wykonana została analiza chropowatości powierzchni (RMS). Badane byłyjedno mikronowe warstwy monokrystaliczne <strong>Cd</strong><strong>Te</strong>:I, <strong>Cd</strong><strong>Te</strong>:In oraz Zn<strong>Te</strong>:Sb (rys. 5.2.8I-IV). Dało to informacje o jakości wzrośniętych warstw oraz wpływie podłożana wzrost tych warstw. Dokładne dane tej analizy zawiera tabela 5.2.2.117
Change language