(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

5.3.1. OPTYMALIZACJA GRUBOŚCI WARSTWWarstwy amorficzne jako kontakty okazały się dobrym rozwiązaniem, którenależy dalej badać żeby uzyskać jeszcze więcej informacji o fizyce zjawiskzachodzących w tak nieuporządkowanym obszarze i na jego złączu z metalem.Dotychczasowo testowane warstwy miały grubość rzędu 1μm i dawały dobreliniowe charakterystyki I-V. Biorąc pod uwagę tak szeroki amorficzny obszar pojawiłosię pytanie, czy to nie jest zbyt „gruba” warstwa? Może wystarczająca by była grubośćrzędu 100 nm lub 500 nm?Na początek przy użyciu mikroskopii AFM przeprowadzone zostały badaniachropowatości powierzchni warstw o różnych grubościach (rys. 5.3.1.1).grubość warstwy → 100 nm,RMS → 0,7 nmgrubość warstwy → 300 nm,RMS → 1,2 nmgrubość warstwy → 1 μm,RMS → 90 nmRysunek 5.3.1.1. Obrazy AFM powierzchni amorficznych warstw ZnTe:Sb o różnych grubościach.We wszystkich trzech przypadkach napylanie odbywało się w takich samych warunkach.Badania te pozwoliły zaobserwować, że wraz ze wzrostem grubości amorficznejwarstwy rośnie wartość jej chropowatości RMS. Najprawdopodobniej wynikato z faktu, że im dłużej napylany jest materiał tym większe tworzy nanokrystality.Wynikiem tego jest wzrost parametru chropowatość powierzchni RMS.Dalszym etapem badań było potwierdzenie jednorodności składu powierzchni.Informacji takiej dostarczył pomiar EDS (mod mikroskopu SEM, charakterystyka moduprzedstawiona jest w rozdziale 6.4). Poprzez obserwację powierzchni w dużejrozdzielczości zauważono występowanie w warstwie amorficznej „dziur”. Im cieńszawarstwa amorficzna tym więcej „dziur” na powierzchni warstwy. Takie stwierdzeniawynika z obserwacji i porównania serii zdjęć z mikroskopu SEM (rys. 5.3.1.2).Obok zdjęć wykonane zostały jak już wspomniano badania składu pierwiastkowegopowierzchni.133