(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

Rysunek 6.7.1. Schemat zasady działania aparaturydo bezkontaktowego pomiaru oporności. a) schematułożenia okładek kondensatora i elementu materiałupoddanego badaniu, b) schemat szeregowegołączenia dwóch kondensatorów gdzie C s i R sreprezentują opór i pojemność próbki zaś C a topojemność obszaru pomiędzy elektrodą (okładkąkondensatora) a badanym materiałem [4].Odpowiadający temu układowi obwód (jak przedstawia to rys. 6.7.1 b) zawierakondensator C s oraz opornik R s , które reprezentują pojemność i opór próbki połączoneze sobą zależnościami zgodnymi ze wzorem (6.7.3).dS 0A RSCS (6.7.3)A d0STaki model jest stosowalny jedynie dla płaskiego kondensatora, w którym miedzyokładkami znajduje się materiał półprzewodnikowy o wysokiej oporności.Pomiar oporności odbywa się poprzez pomiar zależnego od czasu prądu poprzyłożeniu odpowiedniego prostokątnego impulsu napięcia do okładek kondensatora.Poprawnie sytuację tą przedstawia wzór (6.7.4) z pracy R. Stiballa [4].CS eQ(0)e (6.7.4)( C C ) aS0Q()gdzie Q jest ładunkiem (elektronami lub dziurami). Wzór ten opisuje dokładnie sytuacjęprzedstawioną na schemacie I -III (A-C) w tabeli 6.7.1.I II III0AQ(0)Q(0)=CUdla τ=0BQ(τ e )wzór (6.7.4)CPo zwarciupłytekkondensatoraprzezamperomierz.Wykres zależności Q(τ) dla różnych etapówprzemieszczania się nośników ładunków pomiędzyokładkami kondensatora.Tabela 6.2.1. Etapy przemieszczania się nośników ładunku(Q) podczas działania układu do pomiaru ρ[4].161