10.07.2015 Views

(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

(Cd,Mn)Te - Instytut Fizyki PAN

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Amorficzne warstwy w odróżnieniu od monokrystalicznych napylanie zostały przydużo niższej temperaturze podłoża i przy zachowaniu tych samych (co w przypadkumonowarstw) temperatur na komórkach efuzyjnych.Maszyna MBE została przetestowana pod względem uzyskiwania warstw homoi hetero-epitaksjalnych typu <strong>Cd</strong><strong>Te</strong> na <strong>Cd</strong><strong>Te</strong>, Zn<strong>Te</strong> na Zn<strong>Te</strong> lub np. Zn<strong>Te</strong> na <strong>Cd</strong><strong>Te</strong>.Podłoża, ich przygotowanie i materiały do komórek efuzyjnych są własnej produkcji.Na początku rozprawy przedstawione zostały podstawowe mechanizmyoddziaływania promieniowania z interesującego nas przedziału energii, z materiałemdetekcyjnym. Dalsza część rozprawy zawiera ogólne informacje na temat materiałówdotychczas stosowanych do produkcji detektorów X i gamma, a także ich krótkącharakterystykę pod kątem własności fizycznych. Podjęty też został temat metodwzrostu tych związków. Zawiera on także bardzo ogólny zarys mechanizmu zbiorunośników ładunku w schematycznie przedstawionym detektorze promieniowaniai ogólny zapis wzoru Hechta.Kolejną część tego rozdziału poświęcono na omówienie (<strong>Cd</strong>,<strong>Mn</strong>)<strong>Te</strong> jakonowego materiału do zastosowania w produkcji detektorów. Przedstawione zostały jegoparametry fizyczne, metoda krystalizacji (technologia wzrostu 1,5 calowych wytopów),a także dostosowanie odpowiednich domieszek kompensujących i wpływ wygrzewańna zmiany zachodzące w jego strukturze i własnościach. Rozdział ten zawiera takżewyniki z kilku serii płytek: mapowania oporności właściwej, obserwacji powierzchnipod kątem precypitacji, oraz jamek trawienia wszystko w zależności od metodwygrzewania.Rozdział trzeci przedstawia podstawy teorii na temat złącz metal-półprzewodniki zjawisk zachodzących na interfejsach. W dalszej jego części zawarte zostały metodynanoszenia różnych typów metali jako kontaktów elektrycznych do półizolującychpłytek <strong>Cd</strong><strong>Te</strong> i (<strong>Cd</strong>,Zn)<strong>Te</strong>, a także metody ich ulepszania pod kątem omowości.Kolejny rozdział to opis fizycznych podstaw wzrostu epitaksjalnegooraz budowy aparatury (poszczególnych jej elementów) do hodowli i charakteryzacjitych warstw. Dotyczy on także przygotowania powierzchni do procesów epitaksjii napylania oraz standardowego procesu wzrostu i napylania cienkich warstww maszynie MBE.Główna część pracy doświadczalnej została zawarta w rozdziale piątym, gdzieprzedstawiono krok po kroku doświadczenia i pomysły na ich wykonanie, mającena celu potwierdzenie lub obalenie naszych założeń.7

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!